[实用新型]一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置

权利要求书

1.一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的顶部固定安装有支撑杆（2），所述支撑杆（2）的左右两端均固定安装有滑杆（3），两个所述滑杆（3）分别滑动安装于两个滑块（4）的内部，两个所述滑块（4）的正面均开设有滑槽（5），所述滑杆（3）位于滑槽（5）内，两个所述滑杆（3）的外侧均活动安装有定位块（6），两个所述定位块（6）相背的一侧均螺纹连接有定位螺杆（7），两个所述滑块（4）的顶部均固定安装有固定杆（8），左侧所述固定杆（8）的内部活动安装有安装套（9），所述安装套（9）的内部螺纹安装有第一夹持杆（10），所述第一夹持杆（10）的左端且位于左侧所述固定杆（8）的左侧固定安装有转柄（11），左侧所述固定杆（8）的正面螺纹连接有第一固定螺杆（12），右侧所述固定杆（8）的内部活动安装有第二夹持杆（13），右侧所述固定杆（8）的正面螺纹连接有第二固定螺杆（14），所述第一夹持杆（10）与第二夹持杆（13）相对的一侧均固定安装有夹持块（15），两个所述夹持块（15）相对的一侧均固定安装有夹持橡胶（16），两个所述夹持橡胶（16）相对的一侧均固定安装有波片本体（17）。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，其特征在于：所述底座（1）设置为实心长方体座，所述滑块（4）设置为空心长方体块，两个所述滑块（4）呈对称分布于底座（1）的左右两侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，其特征在于：所述滑槽（5）为“X”字形槽，每个所述滑块（4）上均设置有两个滑槽（5），并且两个滑槽（5）呈对称分布于滑块（4）的正面与背面，滑槽（5）的内侧为倒圆角设置。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，其特征在于：所述滑杆（3）位于滑块（4）的内部，并且滑杆（3）的两端均贯穿滑槽（5）并延伸至滑块（4）的外侧。

5.根据权利要求1所述的一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，其特征在于：两个所述定位螺杆（7）相对的一端均贯穿并延伸至两个滑块（4）相背的一侧，所述第一固定螺杆（12）靠近安装套（9）的一端延伸至安装套（9）的外侧。

6.根据权利要求1所述的一种用于测量仪器光学的石英波片加工用夹持装置，其特征在于：所述第二固定螺杆（14）靠近第二夹持杆（13）的一端延伸至第二夹持杆（13）的外侧，所述第二夹持杆（13）的右端且位于右侧所述固定杆（8）的右侧安装有限位块。