[实用新型]高精度温度传感器矩阵测试系统有效

专利信息
申请号: 201822164212.X 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN209311633U 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 刘立;刘宇明;刘禹龙 申请(专利权)人: 锦州七七七微电子有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 锦州辽西专利事务所(普通合伙) 21225 代理人: 李辉;葛春波
地址: 121001 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 万用表 双刀继电器 程控电源 程控开关 程控 高精度温度传感器 温度传感器测试 混合集成电路 矩阵 数据流 测试系统 输出端 插座 供电系统 继电器 连接线 电源接线柱 矩阵开关组 自动化测试 测试操作 测试回路 常开接点 继电器组 矩阵分布 矩阵控制 人力资源 线圈串接 准确度 恒温槽 矩阵板 上位机 测试
【说明书】:

一种高精度温度传感器矩阵测试系统,在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端,双刀继电器形成30位矩阵开关组,还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽,所述数据流输出端与程控万用表连接,所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路,所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统,所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接。可实现混合集成电路的自动化测试,缩短了混合集成电路的测试时间,而且节省了人力资源,减轻了测试操作工的劳动强度,从精度和准确度上都有很大程度的提高。

技术领域

本实用新型涉及温度传感器电路测试系统,进一步来说,涉及一种高精度温度传感器矩阵式程控测试系统。

背景技术

以往的高精度温度传感器测试,都是采用人工手动测试,需要两个测试操作工配合才能进行测试。具体过程为:一个操作工通过手动搬动开关,使测试硬件调节到对应参数的测试电路,再通过数字万用表、示波器、网络分析仪、阻抗分析仪等测试设备进行人为读数,通过口述的方式让另一个测试操作工进行测试数据的记录,这种测试方式生产效率特别低,而且容易使测试数据的读取和记录发生错记或者漏记的现象,或者因为误操作硬件测试电路的切换开关,引起测试电路的错误搭接从而导致器件烧毁。由于温度传感器的生产成本高,销售价格昂贵,因此这些因为读数、记录数据和硬件操作上所发生的错误都会给企业带来不必要的重大损失,并且工人的工作量特别大,工作效率非常低。此外,由于温度传感器的特殊性,测试环境温度要求非常高,对于高精度的温度传感器要求则更高,所以以往的测试方案都会带来很大的测试偏差。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种高精度温度传感器矩阵测试系统,能实现高精度温度传感器的矩阵式自动测试,通过控制矩阵阵列排布,能一次性顺序自动测试28个产品,从而大大的提高了生产效率,而且节省大量的人力物力财力,保证了产品批量生产的准确性、稳定性和一致性;缩短了测试时间,而且节省了人力资源,测试操作工也只需要输入管号并确认就能完成测试,大大减轻了测试操作工的劳动强度。

本实用新型的技术解决方案是:

一种高精度温度传感器矩阵测试系统,包括PCB矩阵板,其特殊之处是:在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端,所述15个双刀继电器形成30位矩阵开关组,该测试系统还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽,所述程控开关通过插针、矩阵测试端和所述双刀继电器线圈连接,所述温度传感器测试端与DUT插座之间通过插针连接,所述数据流输出端与程控万用表连接,所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路,所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统,所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接,所述继电器用于切换测试具体参数对应的电路,通过程控开关实现测试的逻辑控制。

进一步,所述DUT插座由四个上下布置的插座单元构成,每个插座单元包括圆形PCB板,所述圆形PCB板上表面设置呈周向间隔布置的七个插座,圆形PCB板的上表面中心设有螺杆、下表面中心设有螺孔,上下相邻的圆形PCB板通过对应的螺孔和螺杆实现螺纹连接。

进一步地,所述数据流输出口和程控万用表分别有二个且对应连接,从而提高测试效率。

本实用新型的有益效果是:可实现混合集成电路的自动化测试,缩短了混合集成电路的测试时间,而且节省了人力资源,测试操作工也只需要输入管号并确认就能完成测试,大大减轻了测试操作工的劳动强度,采用程控方式从精度和准确度上都有很大程度的提高。该测试系统可用于专用的电路测试,不局限于固化好的测试模式,可以进行灵活的搭配使用,从而实现对每个参数、每种产品的独立测试。

附图说明

图1是本实用新型的系统结构示意图;

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