[实用新型]一种圆柱试样外圆面剖层夹具

说明书

本实用新型公开了一种圆柱试样外圆面剖层夹具，包括支撑V型块、导电V型块和夹紧导向块，所述支撑V型块上端中部设置有所述导电V型块，所述导电V型块上端中部设置有圆柱试样，所述支撑V型块上端两侧设置有插槽，所述支撑V型块上端四角处设置有支撑柱。有益效果在于：本实用新型通过设置刻度圆盘以及量尺，使得圆柱试样在剖层过程中的旋转角度以及轴向的剖层距离得到精确的控制，有利于确保剖层的精度，通过设置导电V型块、支撑柱以及夹紧导向块，避免了圆柱试样的径向以及轴向移动，确保了圆柱试样的夹紧的可靠性，有利于提高剖层的效率。

技术领域

本实用新型涉及夹具技术领域，具体涉及一种圆柱试样外圆面剖层夹具。

背景技术

在精密超精密加工领域，通常需要探究被加工试样内部的应力状态分布及硬度分布等，这就需要对被加工试样进行剖层，对于圆柱型试样，由于其外圆面是个弧形面，在剖层过程中剖层工具极易偏斜而无法保证剖层质量，同时，在剖层深度较大时，需要通过多次剖层来达到要求深度，这就需要保证每次剖层都要沿着同一个径向深度进行，在现有的剖层工具中大多是通过手工直接在外圆表面剖层，无法保证圆柱试样轴向和径向的剖层精度，因此急需一种圆柱试样外圆面剖层夹具来解决现有问题。

发明内容

（一）要解决的技术问题。为了克服现有技术不足，现提出一种圆柱试样外圆面剖层夹具，解决了现有夹具上缺少测量装置，使得圆柱试样在剖层过程中旋转角度以及轴向剖层距离得不到精确的控制，降低了剖层精度，以及夹紧不可靠，使得圆柱试样在剖层过程中常会发生径向以及轴向的移动，增加了剖层的难度，降低了剖层效率的问题。

（二）技术方案。本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种圆柱试样外圆面剖层夹具，包括支撑V型块、导电V型块和夹紧导向块，所述支撑V型块上端中部设置有所述导电V型块，所述导电V型块上端中部设置有圆柱试样，所述支撑V型块上端两侧设置有插槽，所述支撑V型块上端四角处设置有支撑柱，所述支撑柱顶端设置有所述夹紧导向块，所述夹紧导向块内靠近所述支撑柱处设置有插孔，所述夹紧导向块上端中部设置有导向筒，所述夹紧导向块下端一侧设置有观察槽，所述观察槽下方设置有量尺，所述观察槽两侧设置有弧形通槽，所述弧形通槽内壁上设置有海绵垫片，所述插槽内设置有指示牌，所述指示牌上端设置有刻度圆盘，所述指示牌下端设置有插杆。

进一步的，所述导电V型块与所述支撑V型块通过卡槽连接，所述插槽成型与所述支撑V型块上。

进一步的，所述指示牌与所述插槽插接，所述插杆以及所述刻度圆盘均成型于所述指示牌上，所述圆柱试样与所述导电V型块搭接。

进一步的，所述量尺与所述支撑V型块通过卡槽连接，所述支撑柱与所述支撑V型块以及所述插孔均为插接，所述支撑柱的数量为四个。

进一步的，所述插孔、所述弧形通槽以及所述观察槽均成型于所述夹紧导向块上，所述弧形通槽的数量为两个。

进一步的，所述海绵垫片与所述弧形通槽粘接，所述夹紧导向块与所述支撑V型块通过所述支撑柱相连。

进一步的，所述导向筒与所述夹紧导向块粘接。

（三）有益效果。本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：1、为解决现有夹具上缺少测量装置，使得圆柱试样在剖层过程中旋转角度以及轴向剖层距离得不到精确的控制，降低了剖层精度的问题，本实用新型通过设置刻度圆盘以及量尺，使得圆柱试样在剖层过程中的旋转角度以及轴向的剖层距离得到精确的控制，有利于确保剖层的精度；2、为解决现有夹具夹紧不可靠，使得圆柱试样在剖层过程中常会发生径向以及轴向的移动，增加了剖层的难度，降低了剖层效率的问题，本实用新型通过设置导电V型块、支撑柱以及夹紧导向块，避免了圆柱试样的径向以及轴向移动，确保了圆柱试样的夹紧的可靠性，有利于提高剖层的效率。

附图说明

图1是本实用新型所述一种圆柱试样外圆面剖层夹具的爆炸图。