[实用新型]芯片成像采集装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片成像采集装置，它包括用于对待检测芯片发射光线的光源、摄像机和用于将经过光源照亮后的待检测芯片的图像成像至摄像机的镜头的成像组件。本实用新型能够很好地采集待检测芯片的成像，进一步得到其芯片信息。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片成像采集装置。

背景技术

目前，由于芯片设计理念为小巧便携，在设计时，考虑到产品空间上需要小巧为主，所以内部结构需要合理优化。

市场上大多数产品摄像机采集信息时，是与被采集信息的产品成一平面，这样子由于采集的产品不同，摄像机与采集产品的距离就是一个变量，距离上会存在很大的差异。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种芯片成像采集装置，它能够很好地采集待检测芯片的成像，进一步得到其芯片信息。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种芯片成像采集装置，它包括：

用于对待检测芯片发射光线的光源；

摄像机；

用于将经过光源照亮后的待检测芯片的图像成像至摄像机的镜头的成像组件。

进一步提供了一种光源的具体结构，所述光源包括光源板，所述光源板上设置有至少一个LED灯。

进一步，所述光源板为环形结构，所述LED灯设置有至少两个，至少两个LED灯沿着光源板的周向均布。

进一步，所述光源板的中心设置有透像孔，所述成像组件设置在透像孔的上方。

进一步，所述LED灯设置有六个。

进一步，所述成像组件为平面镜，待检测芯片的成像光线经过平面镜折射至摄像机的镜头上。

采用了上述技术方案后，由于空间有限，为了优化产品空间，减少摄像机到采集产品的距离，采用了平面镜反射原理来采集产品信息，原理如下：通过光源板上的LED灯通电发光后，将待检测芯片照亮，从而使其成像在平面镜上，这时摄像机通过拍摄平面镜的成像，即可完成一次检测芯片内容的采集，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型的芯片成像采集装置的立体图。

具体实施方式

为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，一种芯片成像采集装置，它包括：

用于对待检测芯片4发射光线的光源；

摄像机1；

用于将经过光源照亮后的待检测芯片4的图像成像至摄像机1的镜头的成像组件。

如图1所示，所述光源包括光源板3，所述光源板3上设置有至少一个LED灯。

如图1所示，所述光源板3为环形结构，所述LED灯设置有至少两个，至少两个LED灯沿着光源板3的周向均布。

如图1所示，所述光源板3的中心设置有透像孔，所述成像组件设置在透像孔的上方。

如图1所示，所述LED灯设置有六个，但是不限于此。

所述成像组件可以为平面镜2，待检测芯片4的成像光线经过平面镜折射至摄像机1的镜头上。

本实用新型的工作原理如下：