[实用新型]带有未焊透结构的相控阵检测对比试块有效
申请号: | 201822211777.9 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN209745889U | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | 苗逢春;毛月娟;贺志强;王建新;赵存兵;孙思昳;袁波;陈沅沅 | 申请(专利权)人: | 内蒙古北方重工业集团有限公司 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30;G01N29/04 |
代理公司: | 11331 北京康盛知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张良<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 014030 内*** | 国省代码: | 内蒙;15 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 人工缺陷 试块本体 横通孔 标尺 本实用新型 阶梯式递增 平面的 侧面 无损检测技术 相控阵检测 圆环状结构 对比试块 机械加工 距离数据 对比性 未焊透 胶接 圆环 通用 | ||
1.一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块,包括试块本体(1),其特征在于,所述试块本体(1)为圆环状结构,所述试块本体(1)的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷(2),所述人工缺陷(2)为机械加工的横通孔结构,若干所述人工缺陷(2)的横通孔的孔径呈阶梯式递增,所述试块本体(1)的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺(3),所述标尺(3)与所述人工缺陷(2)一一对应,若干所述人工缺陷(2)距所述试块本体(1)的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势,所述标尺(3)上记载有与其相对应的所述人工缺陷(2)的横通孔的孔径及距所述试块本体(1)的侧面平面的距离数据。
2.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块,其特征在于,所述试块本体(1)采用分区结构。
3.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块,其特征在于,所述试块本体(1)的圆环内侧的人工缺陷(2)的数量为六个,六个所述人工缺陷(2)的孔径从小到大依次为2mm、3mm、4mm、5mm、6mm和7mm,所述人工缺陷(2)距所述试块本体(1)的侧面平面的距离从小到大依次为8mm、10mm、12mm、14mm、16mm和18mm。
4.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块,其特征在于,所述标尺(3)在所述试块本体(1)外壁上位置与所述人工缺陷(2)在所述试块本体(1)内的位置一一对应。
5.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块,其特征在于,所述试块本体(1)的材质与待检测物的材质相同。
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