[实用新型]一种用于弹簧探针接触性检测装置有效
申请号: | 201822226374.1 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209542783U | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 张俊堂;张强;方正;李海峰;魏菊 | 申请(专利权)人: | 太仓思比科微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R27/02 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 杨帆 |
地址: | 215411 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 弹簧探针 处理模块 阻抗模块 本实用新型 数据传输线 检测装置 显示终端 接触性 连接板 模拟信号传输 模拟信号转换 快速判断 数据传送 数字信号 有效计算 输出端 节约 阻抗 生产成本 测试 | ||
本实用新型公开了一种用于弹簧探针接触性检测装置,包括连接板、阻抗模块、数据传输线和显示终端,其中,连接板用于将测试时的模拟信号传输给阻抗模块;阻抗模块包括A/D转换器和处理模块,通过A/D转换器将模拟信号转换为数字信号并且传送给处理模块,处理模块的输出端通过数据传输线将数据传送给显示终端进行显示;本实用新型结构简单,可以有效计算出每根弹簧探针的阻抗,进而快速判断出损坏的弹簧探针,节约了大量的时间,并且避免了更换所有弹簧探针所造成的不必要的浪费,仅需要更坏损坏的弹簧探针即可继续使用,节约了生产成本。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域,特别涉及一种用于弹簧探针接触性检测装置。
背景技术
现有技术中,对芯片测试时都是使用全自动机台进行测试,通过弹簧探针压紧测试芯片的测试点,但由于芯片体积小,测试使用的弹簧探针规格小,而且集中在一起,经过上万次测试后,弹簧探针极易出现磨损氧化等问题,使其与测试芯片接触不良,造成芯片检测误判,一般都需要将整组弹簧探针进行更换,这样就会造成不必要的浪费,另外,有时为了节约成本,通过人工观测的方法进行判断,但是针头又小又密,既花费了大量的时间又无法准确找出有问题的弹簧探针。
实用新型内容
针对以上现有技术存在的缺陷,本实用新型的主要目的在于克服现有技术的不足之处,公开了一种用于弹簧探针接触性检测装置,其特征在于,包括连接板、阻抗模块、数据传输线和显示终端,其中,
所述连接板用于将测试时的模拟信号传输给所述阻抗模块;
所述阻抗模块包括A/D转换器和处理模块,通过A/D转换器将模拟信号转换为数字信号并且传送给处理模块,所述处理模块的输出端通过所述数据传输线将数据传送给显示终端进行显示。
进一步地,所述数据传输线为所述阻抗模块进行供电或者通过市电转压后单独为所述阻抗模块供电。
进一步地,所述处理器为CPLD。
进一步地,所述显示终端是计算机和显示软件。
进一步地,所述计算机的操作系统为windows、linux或macOS中的一种。
进一步地,所述显示软件包括弹簧探针分布模拟图示和失效探针位置显示。
进一步地,还包括失效探针位置坐标。
进一步地,所述数据传输线通过USB接口与显示终端进行连接。
一种用于弹簧探针接触性检测装置的检测方法,步骤如下:
(1)将弹簧探针通过所述连接板与所述阻抗模块连接,用所述数据传输线将所述阻抗模块与所述显示终端连接,并且通过所述显示终端给所述阻抗模块供电,测试时,弹簧探针压紧测试芯片使弹簧探针形成回路。
(2)通过所述阻抗模块的所述A/D转换器对采集弹簧探针的模拟量转换为数字量,通过所述处理模块进行内部计算得到阻抗,并且对阻抗进行判断,当阻抗为无穷大,反之,则弹簧探针未损坏。
(3)所述处理模块通过所述数据传输线将数据传送给所述显示终端,所述显示终端上显示出弹簧探针分布模拟图示上显示出损坏的弹簧探针。
进一步地,显示终端还显示失效探针位置坐标。
本实用新型取得的有益效果:
本实用新型结构简单,可以有效计算出每根弹簧探针的阻抗,进而快速判断出损坏的弹簧探针,节约了大量的时间,并且避免了更换所有弹簧探针所造成的不必要的浪费,仅需要更坏损坏的弹簧探针即可继续使用,节约了生产成本。
附图说明
图1为本实用新型的一个实施例的示意图;
附图标记如下:
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