[实用新型]一种实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备有效
申请号: | 201822232726.4 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209344035U | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 杭州纤纳光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01N23/207 |
代理公司: | 浙江一墨律师事务所 33252 | 代理人: | 陈红珊 |
地址: | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钙钛矿薄膜 测量记录系统 分析统计系统 本实用新型 监测装置 实时监测 数据传输 计步器 成膜 太阳能电池基片 蒸发控制系统 反应进程 分析数据 滑动轨道 生产过程 性能参数 测角仪 钙钛矿 衍射线 投射 衍射 圆环 捕捉 反馈 发射 监测 生产 | ||
1.一种实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备,其特征在于,包括X射线衍射监测装置以及分析统计系统,所述X射线衍射监测装置的X射线监测数据传输至分析统计系统,所述X射线衍射监测装置包括滑动轨道、测角仪圆环、X射线发射装置、X射线接收装置及计步器、测量记录系统,所述滑动轨道、测角仪圆环、X射线发射装置以及X射线接收装置及计步器设置在真空密封舱内,在所述真空密封舱内设置有加热钙钛矿太阳能电池基片的加热装置,以及被蒸发控制系统控制的蒸发源,所述滑动轨道固定在真空密封舱内,所述测角仪圆环沿滑动轨道滑动,所述X射线发射装置以及X射线接收装置及计步器设置在测角仪圆环上,所述X射线接收装置及计步器绕测角仪圆环旋转,所述X射线发射装置不断改变入射角,发射的X射线投射到钙钛矿太阳能电池基片表面产生衍射,所述X射线接收装置及计步器把捕捉到衍射线的数据传输至测量记录系统,所述测量记录系统将该数据传输至分析统计系统,所述分析统计系统的分析数据反馈至蒸发控制系统。
2.如权利要求1所述的实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备,其特征在于,所述X射线衍射监测装置的测试次数与时间间隔由分析统计系统设置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造