[实用新型]一种用于标准孔径的测头有效

专利信息
申请号: 201822243317.4 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN209197704U 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 郑双飞 申请(专利权)人: 无锡万奈特测量设备有限公司
主分类号: G01B21/14 分类号: G01B21/14
代理公司: 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 代理人: 赵华
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 触点 测头 顶针 标准孔径 测量工件表面 传感器触点 自由收缩 测量 安装座 弹性套 传感器 气推 收缩 顶住 技术方案要点 数据采集状态 本实用新型 测量孔径 使用寿命 体内表面 弹性力 高硬度 复位 充气 放气 划伤 深孔 通孔 磨损 抵触 伸出
【说明书】:

本实用新型公开了一种用于标准孔径的测头,旨在提供一种能够自由收缩触点的测头,其技术方案要点是在测量时,气推传感器充气,使传感器触点顶住顶针,顶针顶住第四通孔,使弹性套端部向外扩张,从而使安装座和触点向测头本体外伸出,触点抵触被侧体内表面,测量孔径的大小;测出孔径后,气推传感器放气,传感器触点收缩,顶针由于弹性套的弹性力,收缩到初始位置,从而使安装座和触点复位,完成测量。此结构能够测量较小的深孔内径,结构简单,成本较低;标准孔径测头的触点能够自由收缩,避免了高硬度触点对被测量工件表面的划伤;减少了在非数据采集状态下,触点长时间接触被测量工件表面,减少了触点的磨损,延长测头使用寿命。

技术领域

本实用新型属于检测领域,尤其涉及一种用于标准孔径的测头。

背景技术

对于孔的直径的测量,有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。

目前,公开号为CN201215468Y的中国专利公开了一种塞规头孔径测量机构,包括导向套底端两侧开设有安装孔,在安装孔内滑动插接有测销,在导向套内固定安装有弹性套,弹性套内开设有滑孔,在滑孔内滑动插接有顶杆,顶杆的底端为锥形体,顶杆的顶端伸出导向套,在位于导向套外部的顶杆上设有限位凸起,限位凸起架在滑孔外侧的导向套端面上,在导向套上端固定设有顶盖,顶盖的顶端部设有通孔,限位凸起上端的顶杆外套有复位弹簧,复位弹簧的顶端部抵在通孔外侧的顶盖内壁,弹性套底端对应于测销的两侧设有间隔的片簧,测销的内端部抵在各自一侧的片簧上,且锥形体部分嵌入两片簧之间的间隙内。

对于一些小孔径的测量,尤其是深孔测量,由于尺寸的限制,传统的传感器无法布置。也无法采用弹性测头的方案,因为如果弹性测头过于细长,测头自身的扰度量对测量会造成测量误差。这种情况下,我们会选用标准孔径测头配合普通笔式传感器的方案。为了避免测头在进入工件时,触点划伤工件,同时也为了避免测头触点长时间接触工件导致触点易磨损。

我们需要将测头触点在非采集数据的状态下,将触点收缩起来。而标准的孔径测头本身不具有这个功能。我们经过对标准孔径测头的结构进行剖析,找出了标准孔径测头形成测力的关键。并对这个部件结构进行改造,从而达到了收缩测头触点的目的。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于标准孔径的测头。其具有能够自由收缩触点,延长测头使用寿命的优点。

本实用新型的的目的可以通过以下技术方案来实现:

一种用于标准孔径的测头,包括测头组件和传感器组件,所述传感器组件与与测头组件之间通过测头连接套连接;

所述测头组件包括测头本体、触点、顶针和弹性套,

所述测头本体为一圆柱体,内部开有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔的直径大于第二通孔的直径,所述弹性套一端安装于第二通孔内,另一端与第一通孔间隙连接,

所述弹性套轴线处开有第三通孔和第四通孔,所述第三通孔的直径大于第四通孔的直径,所述顶针滑动于第三通孔内部,顶针的针尖处抵住第四通孔,所述弹性套端部开有安装孔,所述安装孔贯穿第四通孔,所述安装孔两端安装有安装座,所述触点安装于安装座内,所述测头本体上开有测量孔,所述触点位于安装孔内,伸出测头本体;

所述传感器组件包括气推传感器、传感器安全套、传感器触点和气管,所述传感器安全套包裹在气推传感器外侧,传感器触点与顶针针尾抵触,气管位于气推传感器尾部。

通过采用上述技术方案,在测量时,气推传感器充气,使传感器触点顶住顶针,顶针顶住第四通孔,使弹性套端部向外扩张,从而使安装座和触点向测头本体外伸出,触点抵触被侧体内表面,测量孔径的大小;

测出孔径后,气推传感器放气,传感器触点收缩,顶针由于弹性套的弹性力,收缩到初始位置,从而使安装座和触点复位,完成测量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡万奈特测量设备有限公司,未经无锡万奈特测量设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201822243317.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top