[实用新型]一种用于标准孔径的测头有效
申请号: | 201822243317.4 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209197704U | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 郑双飞 | 申请(专利权)人: | 无锡万奈特测量设备有限公司 |
主分类号: | G01B21/14 | 分类号: | G01B21/14 |
代理公司: | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人: | 赵华 |
地址: | 214000 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触点 测头 顶针 标准孔径 测量工件表面 传感器触点 自由收缩 测量 安装座 弹性套 传感器 气推 收缩 顶住 技术方案要点 数据采集状态 本实用新型 测量孔径 使用寿命 体内表面 弹性力 高硬度 复位 充气 放气 划伤 深孔 通孔 磨损 抵触 伸出 | ||
本实用新型公开了一种用于标准孔径的测头,旨在提供一种能够自由收缩触点的测头,其技术方案要点是在测量时,气推传感器充气,使传感器触点顶住顶针,顶针顶住第四通孔,使弹性套端部向外扩张,从而使安装座和触点向测头本体外伸出,触点抵触被侧体内表面,测量孔径的大小;测出孔径后,气推传感器放气,传感器触点收缩,顶针由于弹性套的弹性力,收缩到初始位置,从而使安装座和触点复位,完成测量。此结构能够测量较小的深孔内径,结构简单,成本较低;标准孔径测头的触点能够自由收缩,避免了高硬度触点对被测量工件表面的划伤;减少了在非数据采集状态下,触点长时间接触被测量工件表面,减少了触点的磨损,延长测头使用寿命。
技术领域
本实用新型属于检测领域,尤其涉及一种用于标准孔径的测头。
背景技术
对于孔的直径的测量,有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。
目前,公开号为CN201215468Y的中国专利公开了一种塞规头孔径测量机构,包括导向套底端两侧开设有安装孔,在安装孔内滑动插接有测销,在导向套内固定安装有弹性套,弹性套内开设有滑孔,在滑孔内滑动插接有顶杆,顶杆的底端为锥形体,顶杆的顶端伸出导向套,在位于导向套外部的顶杆上设有限位凸起,限位凸起架在滑孔外侧的导向套端面上,在导向套上端固定设有顶盖,顶盖的顶端部设有通孔,限位凸起上端的顶杆外套有复位弹簧,复位弹簧的顶端部抵在通孔外侧的顶盖内壁,弹性套底端对应于测销的两侧设有间隔的片簧,测销的内端部抵在各自一侧的片簧上,且锥形体部分嵌入两片簧之间的间隙内。
对于一些小孔径的测量,尤其是深孔测量,由于尺寸的限制,传统的传感器无法布置。也无法采用弹性测头的方案,因为如果弹性测头过于细长,测头自身的扰度量对测量会造成测量误差。这种情况下,我们会选用标准孔径测头配合普通笔式传感器的方案。为了避免测头在进入工件时,触点划伤工件,同时也为了避免测头触点长时间接触工件导致触点易磨损。
我们需要将测头触点在非采集数据的状态下,将触点收缩起来。而标准的孔径测头本身不具有这个功能。我们经过对标准孔径测头的结构进行剖析,找出了标准孔径测头形成测力的关键。并对这个部件结构进行改造,从而达到了收缩测头触点的目的。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种用于标准孔径的测头。其具有能够自由收缩触点,延长测头使用寿命的优点。
本实用新型的的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种用于标准孔径的测头,包括测头组件和传感器组件,所述传感器组件与与测头组件之间通过测头连接套连接;
所述测头组件包括测头本体、触点、顶针和弹性套,
所述测头本体为一圆柱体,内部开有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔的直径大于第二通孔的直径,所述弹性套一端安装于第二通孔内,另一端与第一通孔间隙连接,
所述弹性套轴线处开有第三通孔和第四通孔,所述第三通孔的直径大于第四通孔的直径,所述顶针滑动于第三通孔内部,顶针的针尖处抵住第四通孔,所述弹性套端部开有安装孔,所述安装孔贯穿第四通孔,所述安装孔两端安装有安装座,所述触点安装于安装座内,所述测头本体上开有测量孔,所述触点位于安装孔内,伸出测头本体;
所述传感器组件包括气推传感器、传感器安全套、传感器触点和气管,所述传感器安全套包裹在气推传感器外侧,传感器触点与顶针针尾抵触,气管位于气推传感器尾部。
通过采用上述技术方案,在测量时,气推传感器充气,使传感器触点顶住顶针,顶针顶住第四通孔,使弹性套端部向外扩张,从而使安装座和触点向测头本体外伸出,触点抵触被侧体内表面,测量孔径的大小;
测出孔径后,气推传感器放气,传感器触点收缩,顶针由于弹性套的弹性力,收缩到初始位置,从而使安装座和触点复位,完成测量。
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