[实用新型]一种硬度测量机整体机构有效

专利信息
申请号: 201822264855.1 申请日: 2018-12-31
公开(公告)号: CN209296502U 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 邰大勇;王斌 申请(专利权)人: 为度科创检测技术(苏州)有限公司
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40
代理公司: 苏州诚逸知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32313 代理人: 高娟
地址: 215500 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 硬度测量 测量孔 整体机构 测量针 测量 底端 底座 电磁铁 本实用新型 测量单元 支架 红外线发射器 红外线接收器 测量效率 处理芯片 升降结构 不规则 固定台
【权利要求书】:

1.一种硬度测量机整体机构,包括底座、支架和测量主体,所述测量主体与所述底座通过所述支架相连接,其特征在于,所述测量主体上安装有若干测量单元;

所述测量单元由若干测量针和若干测量孔组成,所述测量针安装在所述测量孔内,所述测量孔孔口安装有挡圈,所述测量针位于所述测量孔内端安装有凸台;

所述测量孔底端与所述测量针底端均安装电磁铁,两所述电磁铁上分别按照有红外线发射器和红外线接收器,所述测量孔底端安装有硬度测量模块,所述硬度测量模块与安装在所述测量孔底端的所述电磁铁相连接;

所述底座上安装有固定台和处理芯片,所述固定台下端安装有升降结构,所述处理芯片与所述升降结构、所述电磁铁、所述硬度测量模块、所述红外线接收器和所述红外线发射器通过信号相连接。

2.根据权利要求1所述一种硬度测量机整体机构,其特征在于,所述测量针与所述测量孔相配合。

3.根据权利要求1所述一种硬度测量机整体机构,其特征在于,所述凸台与所述挡圈相配合。

4.根据权利要求1所述一种硬度测量机整体机构,其特征在于,所述红外线发射器安装在位于所述测量针底端的所述电磁铁上。

5.根据权利要求1所述一种硬度测量机整体机构,其特征在于,所述红外线接收器安装在位于所述测量孔底端的所述电磁铁上。

6.根据权利要求1所述一种硬度测量机整体机构,其特征在于,所述处理芯片与外部终端相连接。

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