[实用新型]便捷测试式触摸屏功能片

说明书

本实用新型公开一种便捷测试式触摸屏功能片，包括屏体，对位测试模组、刻蚀电路层及通道阻抗测试模组。通过设置多个普通对位块和多个对位倍数块，可快速寻找出不良的通道线路，减少了因数数消耗的时间和精力，同时，避免了错数漏数的现象，将合格的通道线路错当不良通道线路进行测试，进而损坏了原来合格的通道线路。通过将邦定金手指、银桥及测试金手指设置成一体，可以直接将测试治具对测试金手指进行测试，代替了传统的测试治具在邦定金手指上测试，一方面，保护了邦定金手指，避免了邦定金手指损坏，另一方面，设置银桥能提高通道阻抗测试的准确度。

技术领域

本实用新型涉及触摸屏功能片技术领域，特别是涉及一种便捷测试式触摸屏功能片。

背景技术

目前，触摸屏是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，而功能片是触摸屏的关键构建之一，它是将线路制作在具有良好导电性能且透明的导电膜或导电玻璃上。功能片的工作区域是由两大工作模块组成，第一个模块是中间透明区域pattern线路，第二个模块是功能片四周金属线路，即为银浆走线。在功能片生产加工期间，会通过假压测试对功能片进行功能测试，如果功能出现不良现象，会进一步再对存在异常的功能片进行开短路不良分析及通道阻抗测试时，通常使用万用表表笔分别对邦定PAD、pattern搭接桥和pattern通道首末端进行测试分析。然而，现有的触摸屏存在以下的弊端：

1、当判定功能片的功能出现不良现象，需对功能片进行开短路不良分析及通道阻抗测试时，由于需要使用万用表对相关不合格通道进行检测，但通道数量较多，需要把不合格通道依靠顺序计数的方式挑选出来，一方面，浪费了大量的时间和精力；另一方面，顺序计数的方式会出现错数漏数的现象，导致原本合格通道受损而造成不可修复。

2、在对功能片测试时，使用万用表或测试治具等直接接触功能片的邦定PAD，若用力不当或操作次数过多会导致邦定PAD破裂损坏，甚至导致功能片报废不能使用。同时，在对FPC与功能片进行绑定时，容易产生气泡、导电粒子爆破等不正常问题，从而使功能片存在功能性隐患。

3、在功能片外部设计测试PIN并进行测试，由于邦定PAD与测试PIN之间是由ITO等导电膜材料自身进行电性连通，当使用测试治具连通到测试PIN时，此方式会造邦定PAD测试值与测试PIN测试值得电阻值差异较大，且测试PIN测试时，会出现阻值不均匀的问题，进而导致测试数据结果不准确，影响正常的测试速度。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种方便计数的、测试准确、测试效率高的便捷测试式触摸屏功能片。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种便捷测试式触摸屏功能片，包括：

屏体，

对位测试模组，所述对位测试模组包括多个普通对位块及多个对位倍数块，各所述普通对位块间隔设置于所述屏体上，且各所述对位倍数块间隔设置于所述屏体上，每相邻两个所述对位倍数块之间的所述普通对位块的数量相同；

刻蚀电路层，所述刻蚀电路层设置于所述屏体上；

通道阻抗测试模组，所述通道阻抗测试模组包括多条阻抗测试桥，各所述阻抗测试桥间隔设置于所述屏体上，且各所述阻抗测试桥分别与所述刻蚀电路层电连接，在一条所述阻抗测试桥中，所述阻抗测试桥包括顺序连接的邦定金手指、银桥及测试金手指，所述邦定金手指与所述刻蚀电路层电连接。

在其中一个实施例中，相邻两个所述普通对位块间隔相同，相邻两个所述对位倍数块间隔相同。

在其中一个实施例中，多个所述对位倍数块具体包括一级对位倍数块及二级对位倍数块，各所述一级对位倍数块间隔设置于所述屏体上，各所述二级对位倍数块间隔设置于所述屏体上，每相邻两个所述二级对位倍数块之间的所述普通对位块的数量相同，每相邻两个所述二级对位倍数块之间的所述一级对位块的数量相同。