[实用新型]用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置

权利要求书

1.一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，其特征在于，包括：

注入电压测试电路板(1)，具有用于注入电压测试的若干测试通道和第一接插端(13)，所述若干测试通道分别与所述第一接插端(13)的对应连接点电连接；

测试工装(2)，包括转接电路板(21)，所述转接电路板(21)具有与所述第一接插端(13)插接配合的第二接插端(24)以及布置在所述转接电路板(21)一侧板面上的若干连接触点，所述若干连接触点通过所述第二接插端(24)的对应连接点与所述若干测试通道电连接，所述若干连接触点还用于与待测试植入式神经刺激器的若干刺激输出触点电连接。

2.根据权利要求1所述的注入电压测试装置，其特征在于，

所述第一接插端(13)设于所述注入电压测试电路板(1)一端端部，所述第二接插端(24)设于所述转接电路板(21)的所述一侧板面上，所述注入电压测试电路板(1)通过所述第一接插端(13)和所述第二接插端(24)垂直插接于所述转接电路板(21)上；所述若干测试通道分布在所述注入电压测试电路板(1)的两侧的板面上。

3.根据权利要求2所述的注入电压测试装置，其特征在于，

位于同一所述板面上的测试通道沿该板面的竖直方向平行且均匀间隔设置。

4.根据权利要求1所述的注入电压测试装置，其特征在于，

所述第一接插端(13)为设于所述注入电压测试电路板(1)底端的双排插针，所述双排插针中每一排的连接点分别与对应侧的测试通道电连接，相应的，所述第二接插端(24)为双排插座。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的注入电压测试装置，其特征在于，

所述若干测试通道包括若干第一测试通道(11)和一个第二测试通道(12)；所述若干连接触点包括与所述若干第一测试通道(11)电连接的若干第一连接触点(22)和与所述第二测试通道(12)电连接的第二连接触点(23)，所述若干第一连接触点(22)还用于与作为所述刺激输出触点的若干电极触点(41)电连接，所述第二连接触点(23)还用于与作为所述刺激输出触点的刺激器金属壳电连接。

6.根据权利要求5所述的注入电压测试装置，其特征在于，

所述第一连接触点(22)设置为16个。

7.根据权利要求4所述的注入电压测试装置，其特征在于，16个所述第一连接触点(22)呈双排设置，对称地分布在所述双排插座的两侧，每排包括8个均匀间隔设置的所述第一连接触点(22)。

8.根据权利要求7所述的注入电压测试装置，其特征在于，

每排所述第一连接触点(22)与所述双排插座的垂直间距为4～6mm。

9.根据权利要求7或8所述的注入电压测试装置，其特征在于，

各个所述第一连接触点(22)与所述双排插座的各对应连接点的连线(221)距离基本相等。

10.根据权利要求4所述的注入电压测试装置，其特征在于，16个所述第一连接触点(22)呈双排设置，分布在所述双排插座的同一侧；每排包括8个均匀间隔设置的所述第一连接触点(22)。

11.根据权利要求7或8或10所述的注入电压测试装置，其特征在于，所述注入测试电路板的一侧板面上设有8路所述第一测试通道(11)和1路所述第二测试通道(12)，另一侧板面上设有8路所述第一测试通道(11)。