[实用新型]平面测试平台

说明书

本实用新型提供一种平面测试平台，所述平面测试平台包括：平板，所述平板用于放置待测试设备；导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。本实用新型通过从上到下的放置结构和电连接接口结构，避免了从左到右滑动连接结构造成的摩擦造成的磨损误差，大大减小了因为磨损造成的待测试设备的精度误差，提高了待测试设备的精度。

技术领域

本实用新型涉及测试装置，特别涉及一种平面测试平台。

背景技术

电子天平为高精度测量仪器，在出厂之前，需要对电子天平进行校准调试，因为电子天平的高精度要求，所以对电子天平的校准调试环境也提出了很高的标准，特别是对校准调试的平面测试平台的高平面度要求。电子天平在校准调试时，需要将电子天平放置至平面测试平台上，将电子天平的天平传感器的接口与固定于平面测试平台上的接口一端进行连接，固定于平面测试平台上的接口另一端连接至测试仪器，测试仪器通过此连接校准高度天平传感器，从而实现对电子天平的校准调试。在现有技术中，平面测试平台三边有限位装置，一边开口，开口的对面一侧固定设置接口，该接口为水平设置，将电子天平传感器接口一侧朝向平面测试平台的固定接口，将电子天平底座放置于平面测试平台的开口一端，将电子天平向开口另一端推至测试位置，此时电子天平传感器接口与平面测试平台的固定接口在推力作用下实现对接。但在此过程中，不可避免会产生天平底座与平面测试平台接触面的摩擦，不同程度的摩损会影响天平底座平面度的精度，进而会影响天平的整体精度。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术推动电子天平至被测试位置与测试装置连接过程中，电子天平滑动接触面会磨损导致精度误差偏大的缺陷，提供一种平面测试平台。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种平面测试平台，所述平面测试平台包括：

平板，所述平板用于放置待测试设备；

导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。

较佳地，所述夹角为90度。

较佳地，所述待测试设备具有信号接口，所述导电接口的所述导电端子用于与所述信号接口电连接通信，所述导电接口沿竖直方向贯穿于并滑设于所述平板，以实现与所述信号接口的连接与断开。

较佳地，所述导电端子为探针；

所述平面测试平台还包括驱动装置，所述驱动装置与所述导电接口传动连接，以使所述导电接口相对于所述平板沿竖直方向上下移动。

较佳地，所述平面测试平台还包括限位装置，所述限位装置设置于所述平板的周边，以形成定位空间，用于定位放置所述待测试设备。

较佳地，所述限位装置面对所述定位空间的一侧设置有弹性紧固部件，所述弹性紧固部件用于夹紧所述待测试设备。

较佳地，所述平面测试平台还包括传感器，所述传感器用于检测所述平板上是否放置有所述待测试设备。

较佳地，所述平面测试平台还包括凸台，所述凸台从所述平板的上表面沿竖直方向向上延伸，所述凸台的上表面为一平面，所述凸台用于承载所述待测试设备。

较佳地，所述凸台为四个，四个所述凸台呈矩形排布。

较佳地，所述平面测试平台还包括移动平台，所述平板设置于所述移动平台；