[实用新型]毫米波太赫兹成像设备

权利要求书

1.一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，极化片转盘、探测器和图形处理装置，其特征在于

所述极化片转盘可旋转且设置有多个微极化片，且设置在被检对象和所述聚焦透镜之间或者设置在所述聚焦透镜和所述探测器之间，且在极化片转盘旋转的一个预设特定时刻能够通过设置在其上的多个微极化片中的一个微极化片对被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波进行极化；

所述聚焦透镜被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器上；

所述探测器设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将聚焦在其上且被极化的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像，从而在极化片转盘旋转的预设不同时刻的每个时刻获得一幅相应的被检对象的极化图像；以及

所述图形处理装置设置于所述探测器的远离所述极化片转盘的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。

2.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，所述多个微极化片中的每个微极化片被全部极化或被部分极化。

3.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，所述多个微极化片的极化角度的数量为N，所述多个微极化片的数量为M，其中N为大于等于3的正整数，M为N的整数倍。

4.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，所述多个微极化片沿着所述极化片转盘的圆周方向等角度地设置。

5.根据权利要求3所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，在所述预设特定时刻，所述多个微极化片中的一个被全部极化的微极化片或一个被部分极化的微极化片的被极化部分对准所述探测器，从而获得被检对象的极化图像。

6.根据权利要求3所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，在所述预设特定时刻，所述极化片转盘的未设置所述微极化片的部分对准所述探测器或者所述多个微极化片中的一个被部分极化的微极化片的未被极化部分对准所述器，从而获得被检对象的未极化图像。

7.根据权利要求5所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，

在极化片转盘旋转一周时，所述探测器获得M幅被检对象的极化图像，所述M幅被检对象的极化图像包括N个极化角度。

8.根据权利要求6所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，

在极化片转盘旋转一周时，所述探测器获得M幅被检对象的未极化图像。

9.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，所述多个微极化片由多个宏像素单元组成，每个宏像素单元包括极化角度彼此不同的N个微极化片。

10.根据权利要求9所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，每个宏像素单元的N个微极化片包括如下方式中的至少一种：N个线极化微极化片；N-1个线极化微极化片和一个圆极化微极化片；N个部分极化微极化片。

11.根据权利要求10所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，N个线极化微极化片的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN，其中

其中i为小于等于N的正整数。

12.根据权利要求9所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于，N-1个线极化微极化片的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN-1，其中

其中i为小于等于N-1的正整数；

其中，圆极化包括左旋圆极化和右旋圆极化中的至少一种。

13.根据权利要求3所述的毫米波太赫兹成像设备，其特征在于极化角度是固定的或可调的。

14.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，还包括毫米波太赫兹辐射源，其用于向被检对象辐射毫米波太赫兹波。