[实用新型]一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统

说明书

一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统，太赫兹时域光谱仪包括：激光器、分束片、太赫兹辐射天线、第一抛物面镜、样品仓、第二抛物面镜、光源传输模块、太赫兹探测天线及分析模块；分束片将激光光束按预设比例分为泵浦光和探测光；太赫兹辐射天线产生太赫兹波；第一抛物面镜将太赫兹波进行第一次聚焦；样品仓将第一次聚焦后的太赫兹波透过待检测样品；第二抛物面镜对透过待检测样品的太赫兹波进行第二次聚焦；光源传输模块对探测光进行多次反射和调节光学延迟时间；太赫兹探测天线在第二次聚焦后的太赫兹波和探测光的共同作用下，产生样品电流信号；分析模块对样品电流信号进行处理、控制及采集得到待检测样品的结构参数和/或成分信息。

技术领域

本实用新型属于太赫兹技术领域，尤其涉及一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统。

背景技术

随着带来工业技术的快速发展，技术人员通常利用辐射光线对物体的结构进行检测，以得到所述物体的结构信息，并根据该物体的结构信息判断系统的自身状态，以实现对于系统状态的实时监控；由于在实际应用过程中，技术人员无法直接从微观层面观察到物体的内部结构变化情况，或者物体的内部结构成分较为复杂，技术人员对于物体的观察结果存在较大的误差；因此利用辐射光线对于物体的结构进行物理检测的方法具有检测精度高、精细可靠等优点，物体的辐射光线检测方法在各个工业技术领域中逐渐得到了广泛的应用。

然而在对于物体进行辐射光线的物理检测过程中，辐射光线在传输过程中容易受到外界噪声的干扰，导致辐射光线在传输过程中出现频率衰减以及信号失真等现象，且通过辐射光线获取到的物体内部结构信息容易出现较大的误差，检测的精度和灵敏度都比较低；并且传统技术方案利用辐射光线对于物体的成分进行检测过程中，需要对于辐射光线进行多次信号转换以及计算过程，操作过程繁琐，也会增加检测结果的系统误差，并且通过辐射光线所获取得到物体结构信息单一，难以满足用户对于物体的结构信息的综合需求。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统，旨在解决传统的技术方案利用辐射光线对于物体的内部结构进行检测时，检测的精度较低，操作步骤繁琐，耗时长，无法对物体的结构信息进行深入分析的问题。

本实用新型实施例第一方面提供了一种太赫兹时域光谱仪，包括：

激光器；

设置于所述激光器的输出光路上，被配置为将所述激光光束按预设比例分为泵浦光和探测光的分束片；

设置于所述分束片的透射光路上，被配置为在所述泵浦光和偏置电压的共同驱动下产生太赫兹波的太赫兹辐射天线；

设置于所述太赫兹辐射天线的输出光路上，被配置为将所述太赫兹波进行第一次聚焦后输出的第一抛物面镜；

设置于所述第一抛物面镜的反射光路上，被配置为使所述第一次聚焦后的太赫兹波透过待检测样品的样品仓；

设置于所述样品仓的透射光路上，被配置为对透过所述待检测样品的太赫兹波进行第二次聚焦后输出的第二抛物面镜；

设置于所述分束片的反射光路上，被配置为对所述探测光进行多次反射和调节光学延迟时间的光源传输模块；

设置于所述第二抛物面镜的透射光路以及所述光源传输模块的反射光路上，被配置为在同时接收到所述第二次聚焦后的太赫兹波和所述探测光时，产生样品电流信号的太赫兹探测天线；以及

与所述太赫兹辐射天线、所述太赫兹探测天线以及所述光源传输模块连接，被配置为向所述太赫兹辐射天线输出所述偏置电压、对所述样品电流信号进行处理、控制及采集后得到所述待检测样品的结构参数和/或成分信息的分析模块。

在其中的一个实施例中，所述激光器为飞秒激光器。

在其中的一个实施例中，所述光源传输模块包括：