[发明专利]矩阵电容板及芯片测试方法

说明书

提供一种矩阵电容板及芯片测试方法，矩阵电容板，包括：多条第一信号线、多条第二信号线，设置在各条第一信号线与各条第二信号线的相交处的电容形成的电容矩阵，电容矩阵中包括至少两种电容；芯片测试方法包括，矩阵电容板的电容矩阵中设置至少两种容值的电容，从而能够模拟正常状态(即未触摸状态)和触摸状态的功能，并且能够基于矩阵电容板的该功能实现对芯片的不同性能状况的测试。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别涉及一种矩阵电容板及芯片测试方法。

背景技术

随着触摸屏在智能手机、汽车以及家电等领域的广泛应用，触控芯片的需求量也呈爆发式增长。对于触控芯片来说，其功能性和稳定性非常重要，因而在量产测试中，需要对触控芯片的性能进行测试。目前，在触控芯片测试中，使用自律内建自测(Automaticbuilt-in self test，Abist)回路来测试触控芯片各通路是否正常。

发明人发现现有技术至少存在以下问题：现有技术中，通过Abist回路来测试触控芯片各通路是否正常时，存在着有些通路使用Abist回路无法覆盖、触控芯片的测试状态与实际状态偏差较大，导致测试覆盖率不足。

发明内容

本申请部分实施例的目的在于提供一种矩阵电容板及芯片测试方法，矩阵电容板的电容矩阵中设置至少两种容值的电容，从而能实现模拟正常状态(即未触摸状态)和触摸状态的功能，并且能够基于矩阵电容板的该功能实现对芯片的不同性能状况的测试。

本申请实施例提供了一种矩阵电容板，包括：多条第一信号线、多条第二信号线，设置在各第一信号线与各第二信号线的相交处的电容形成的电容矩阵；电容矩阵中包括至少两种容值的电容。

本申请实施例还提供了一种芯片测试方法，提供如上述的矩阵电容板，并将矩阵电容板连接至待测的芯片；将第一信号线、第二信号线的其中一种信号线作为发射通道，且将另一种信号线作为接收通道；向各发射通道依次施加扫描电压，并从各接收通道接收输出电压；根据各接收通道接收的输出电压，分析出芯片的性能状况。

本申请实施例又提供了一种芯片测试方法，提供如上述的矩阵电容板，并将矩阵电容板连接至待测的芯片；将第一信号线或者第二信号线作为当前测试通道；向各当前测试通道依次施加扫描电压，并从各当前测试通道接收输出电压；根据各当前测试通道接收的输出电压，分析出芯片的性能状况。

本申请实施例相对于现有技术而言，矩阵电容板的电容矩阵中设置至少两种容值的电容，从而能实现模拟正常状态(即未触摸状态)和触摸状态的功能，并且能够基于矩阵电容板的该功能实现对芯片的不同性能状况的测试；利用矩阵电容板的该功能设计出芯片测试，能够高度模拟触控芯片的工作环境，从而提高了测试覆盖率，同时也提高了测试速度。

另外，在矩阵电容板中，每条第一信号线上依次排列的各电容的容值形成第一信号线对应的容值分布图案；每条第二信号线上依次排列的各电容的容值形成第二信号线对应的容值分布图案；各条第一信号线对应的容值分布图案满足第一预设条件；或者，各条第二信号线对应的容值分布图案满足第二预设条件；或者，各条第一信号线对应的容值分布图案满足第一预设条件和各条第二信号线对应的容值分布图案均满足第二预设条件。本实施例提供了电容矩阵的不同设计方案。

另外，在矩阵电容板中，第一预设条件为：各条第一信号线对应的容值分布图案均不相同；第二预设条件为：各条第二信号线对应的容值分布图案均不相同。本实施例提供了预设条件的一种具体内容，即提供了电容矩阵的一种具体设计方式。

另外，位于电容矩阵的对角线上以及对角线一侧的各电容均具有第一容值，位于对角线另一侧的各电容均具有第二容值。本实施例提供了电容矩阵的另一种具体设计方式。

另外，第一信号线的数量等于第二信号线的数量。