[发明专利]集成光感检测显示设备及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201880002305.2 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109643380B 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 杨盛际;董学;陈小川;王辉;卢鹏程 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H10K59/60 分类号: H10K59/60;H10K59/65;H10K59/40;H10K59/12;G06V40/13
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 柴亮;张天舒
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 集成 检测 显示 设备 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种集成光感检测显示基板,其具有子像素区域和子像素间区域,所述集成光感检测显示基板包括:

基底基板;

限定多个子像素孔的像素限定层;

多个发光元件,其位于所述基底基板上并且构造为发射光,所述光的一部分被表面全反射从而形成全反射光;

遮光层,其位于所述多个发光元件与所述基底基板之间并且构造为阻挡漫反射光的至少一部分穿过,所述遮光层具有位于所述子像素间区域中的光路孔,以允许所述全反射光的至少一部分穿过,从而形成信号丰富光束;

衍射光栅层,其位于所述基底基板的远离所述光路孔的一侧并且构造为至少部分地使所述信号丰富光束准直,从而形成准直光束;以及

光传感器,其位于所述衍射光栅层的远离所述基底基板的一侧并且构造为检测所述准直光束,从而检测指纹信息;

其中,所述像素限定层具有位于所述子像素间区域中的子像素间孔,以允许所述全反射光的至少一部分顺序地穿过所述子像素间孔和所述光路孔;

所述子像素间孔小于所述光路孔;

所述子像素间孔形成遍及整个集成光感检测显示设备延伸的连续网络。

2.根据权利要求1所述的集成光感检测显示基板,其中,所述遮光层的面积大于所述子像素区域的面积;并且

所述遮光层在所述基底基板上的正投影覆盖所述子像素区域在所述基底基板上的正投影。

3.根据权利要求1所述的集成光感检测显示基板,其中,所述光传感器的面积小于所述集成光感检测显示基板的面积;并且

所述衍射光栅层构造为根据所述衍射光栅层上相对所述光传感器的光出射位置形成以不同出射角度分别朝向所述光传感器传播的准直光束。

4.根据权利要求3所述的集成光感检测显示基板,其中,所述衍射光栅层包括第一衍射区域和第二衍射区域;

所述第一衍射区域构造为使传播至所述第一衍射区域的第一信号丰富光束准直以从所述第一衍射区域以第一出射角度出射,从而形成朝向所述光传感器的第一准直光束;并且

所述第二衍射区域构造为使传播至所述第二衍射区域的第二信号丰富光束准直以从所述第二衍射区域以第二出射角度出射,从而形成朝向所述光传感器的第二准直光束。

5.根据权利要求4所述的集成光感检测显示基板,其中,所述第一衍射区域具有第一光栅栅距;

所述第二衍射区域具有第二光栅栅距;并且

所述第一光栅栅距和所述第二光栅栅距彼此不同。

6.根据权利要求5所述的集成光感检测显示基板,其中,所述第二衍射区域围绕所述第一衍射区域;并且

所述第一光栅栅距大于所述第二光栅栅距。

7.根据权利要求6所述的集成光感检测显示基板,其中,所述第二衍射区域在所述基底基板上的正投影位于所述第一衍射区域在所述基底基板上的正投影的远离所述光传感器在所述基底基板上的正投影的一侧。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的集成光感检测显示基板,还包括多个薄膜晶体管,其构造为驱动所述多个发光元件发光;

所述多个薄膜晶体管中的对应一个包括漏极;

所述遮光层包括彼此间隔开的多个遮光块;并且

所述多个遮光块中的对应一个与所述多个薄膜晶体管中的对应一个的漏极电连接。

9.根据权利要求8所述的集成光感检测显示基板,还包括:第一绝缘层,其位于所述漏极与所述遮光层之间。

10.根据权利要求8所述的集成光感检测显示基板,其中,所述多个发光元件中的对应一个包括与所述遮光层电连接的第一电极。

11.根据权利要求10所述的集成光感检测显示基板,还包括:第二绝缘层,其位于所述第一电极与所述遮光层之间。

12.根据权利要求11所述的集成光感检测显示基板,其中,所述第二绝缘层延伸至所述光路孔中。

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