[发明专利]绝对编码器

说明书

绝对编码器具有：光学式标尺，其具有光学图案；模块封装件(300B)，其将向光学式标尺照射出光的发光元件(31)及对来自光学式标尺的反射光进行受光的受光元件(32)利用光透过性树脂(33A)覆盖；以及控制部，其基于受光元件(32)与反射光相应地输出的信号，对光学式标尺的绝对旋转角度进行运算，在模块封装件(300B)配置有遮光性树脂(34B)，该遮光性树脂(34B)在光透过性树脂(33A)的与光学式标尺相对的面露出且经过发光元件(31)的发光面(310)的中心和受光元件(32)的受光面(320)的中心的中间位置。

技术领域

本发明涉及对测定对象物的绝对旋转角度进行检测的绝对编码器。

背景技术

在对测定对象物的绝对旋转角度进行检测的旋转编码器的其中1个存在绝对编码器。绝对编码器是基于在光学式标尺上的光学图案进行反射而射入至受光元件的光信号，对光学式标尺的绝对旋转角度进行计算的编码器。在该绝对编码器中，如果在绝对旋转角度的运算中所使用的光线以外的不需要的光线射入至受光元件，则绝对旋转角度的检测精度降低，因此希望将不需要的光线去除。

专利文献1的光学式编码器将光源、光检测器和光源狭缝封入至封装件，在光源狭缝的一端形成有遮光部。通过该结构，专利文献1的光学式编码器通过遮光部防止不需要的光线的行进。

专利文献1：日本特开2007－333667号公报

发明内容

但是，在作为上述现有技术的专利文献1中，无法对由封装件和光学式标尺之间的多重反射引起的角度检测精度的降低进行抑制。封装件和光学式标尺之间的多重反射是下述现象，即，从光源射出的光线在光学式标尺进行反射后，在封装件的表面进行反射，进一步在光学式标尺进行反射。该多重反射的光射入至光检测器，由此检测精度降低。通过多重反射所产生的光线，与光学式标尺的旋转相应地光线量及光线的图案会改变，因此难以通过运算装置去除。因此，在专利文献1中，存在下述问题，即，无法高精度地对测定对象物的绝对旋转角度进行检测。

本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于，得到能够高精度地对测定对象物的绝对旋转角度进行检测的绝对编码器。

为了解决上述的课题并达到目的，本发明的绝对编码器具有：光学式标尺，其具有光学图案；模块封装件，其将向光学式标尺照射出光的发光元件及对来自光学式标尺的反射光进行受光的受光元件，利用光透过性树脂覆盖；以及控制部，其基于受光元件与反射光相应地输出的信号，对光学式标尺的绝对旋转角度进行运算。另外，本发明的绝对编码器形成为在将向受光元件的发光元件侧的端部照射的光线的角度设为θ1，将从受光元件的受光面至光透过性树脂的上表面为止的距离设为L3，将从受光元件的发光元件侧的端部至受光面的与发光元件侧相反侧的端部为止的距离设为L4的情况下，2×tanθ1×L3＞L4成立。

发明的效果

本发明所涉及的绝对编码器具有下述效果，即，能够高精度地对测定对象物的绝对旋转角度进行检测。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1所涉及的绝对编码器的结构的图。

图2是表示实施方式1所涉及的模块封装件的结构的剖视图。

图3是表示实施方式1所涉及的模块封装件的结构的俯视图。

图4是表示实施方式1所涉及的绝对编码器所具有的角度运算部的结构的框图。

图5是表示实施方式1所涉及的绝对编码器的角度运算部从受光元件接收的信号的波形例的图。

图6是表示图5所示的波形被校正为均一的分布后的波形的图。

图7是用于说明根据图6所示的波形对粗略的绝对旋转角度进行计算的方法的图。