[发明专利]改进的玻璃检查系统

说明书

本发明涉及一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的一个或多个经清洁的表面的后清洗图像（I_P2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b）。

技术领域

本发明涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统领域。

背景技术

目前，玻璃基板质量控制需要自动检查以核对基板是否具有玻璃制造缺陷以及与各种工业工艺相关的缺陷。使用如能够在图1中看到的检查系统来执行这种检查。目前，这些检查系统1包括运输玻璃基板S的传送系统2，例如传送带或基板在其上移动的多个辊。

在该传送线上布置有清洁装置3。这种清洁装置用于使用一个或多个电离或非电离气刀和/或静电刷或非静电刷来去除灰尘。该清洁装置之后是工业视觉装置4。这种装置包括光学传感器，例如能够检测缺陷的高分辨率摄像机。

然而，这些检查系统具有对以下污染物敏感的缺点：在图像（最常见的是由系统捕获的数字图像）中可以看到的可以被清除的灰尘、纤维或痕迹。

事实上，清洁并不完美，并且在清洁装置介入后仍然存在污染物（灰尘或其它可清洁元素）。该灰尘可能被视觉检查装置解释为缺陷，导致否定玻璃基板。

因此，需要一种提供改进的缺陷检测的检查系统和改进的其操作方法。

发明内容

因此，本发明提出通过提供一种提供更有效检测的检查系统来弥补这些缺点。

为此，本发明涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统，包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具，适于清洁玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置和第一视觉检查装置，所述第一视觉检查装置相对于基板的运动位于清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的经清洁的一个或多个表面的后清洗图像的光学传感器，其特征在于，所述检查系统还包括：相对于基板的运动位于清洁装置上游的第二视觉检查装置，所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的经清洁的一个或多个表面的前清洗图像的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。

根据本发明的系统具有通过在清洁之前和之后检查玻璃基板并比较结果而使得能够改进检查的优点。这有利地使得可以更好地识别真实缺陷并防止不必要的否定。

根据一个示例，每个视觉检查装置适于检测特定点，利用这些特定点将后清洗图像与前清洗图像进行比较。

根据一个示例，特定点是根据它们在玻璃基板上的位置、它们的尺寸和在图像中的签名（即对应于特定点的成像表面的并且例如由一组像素表示的接收信号）而表征的。

根据一个示例，每个视觉检查装置包括控制模块，包括比较工具的连接模块连接至每个控制模块。

根据一个示例，视觉检查装置由包括比较工具的单个控制模块控制。

根据一个示例，清洁装置包括至少一个气刀和/或至少一个刷子。

本发明还涉及一种借助于前述权利要求中的任一项所述的检查系统检查玻璃基板的检查方法，其特征在于，它包括以下步骤：

- 第二视觉检查装置捕获玻璃基板的面的前清洗图像；

- 清洁装置清洁玻璃基板的所述面；

- 第一视觉检查装置捕获玻璃基板上的经清洁的面的后清洗图像；

- 将后清洗图像与前清洗图像进行比较。