[发明专利]在故障情况下实时捕获流量以进行协议调试有效
申请号: | 201880004891.4 | 申请日: | 2018-02-08 |
公开(公告)号: | CN110050441B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 杜安·查姆博克斯 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试公司 |
主分类号: | H04L43/062 | 分类号: | H04L43/062;H04L43/50;G06F11/36 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宗晓斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 故障 情况 实时 捕获 流量 进行 协议 调试 | ||
在故障情况下实时捕获流量以进行协议调试。根据本发明的实施例,用于同时测试多个器件的自动测试设备包括:流量捕获电路,被配置为捕获与被测器件的通信;捕获存储器,被配置为存储由流量捕获电路捕获的通信;路由逻辑,被配置为从捕获存储器(例如,随机存取存储器(RAM))读取通信。针对多个器件中的每个器件,可以存在一个流量捕获电路、一个捕获RAM以及一个路由逻辑。
本申请涉及于2013年2月11日提交的名称为“Test Architecture HavingMultiple FPGA Based Hardware Accelerator Blocks for Testing Multiple DUTsIndependently”、序列号为13/773,569、发明人为Chan等的美国专利申请,其全部内容出于所有目的在此通过引入并入本文。
技术领域
本发明的实施例总体涉及电子器件测试系统领域,并且更具体地涉及用于为这样的测试系统和在该测试系统上被测试的器件提供调试功能的系统和方法。
背景技术
现有测试技术涉及在受控环境中随时间操纵一个或多个被测器件(DUT)。例如,被测器件的温度可以相对于正常操作范围而升高,以增加与温度相关的应力。某些测试环境可能使用布置在DUT和器件测试器之间的高能力协议分析仪。在DUT发生故障时,可以获得详细的故障信息,因为DUT和器件测试器之间的所有通信可以由协议分析仪记录和分析以确定故障的原因。
然而,在每个被测器件和其相应的器件测试器之间布置高能力且昂贵的协议分析仪在商业上是不可行的。例如,典型的单个器件测试器被配置为测试数十或数百个被测器件。相应数量的高能力协议分析仪的成本令人望而却步。另外,通常不可能物理地定位和训练技术人员在典型的环境室中使用如此大量的高能力协议分析仪。此外,这样的外部协议分析仪测试器不能捕获不是与被测器件交换的数据。例如,测试系统控制器与测试系统的其他功能块之间的通信对于外部协议分析仪是不可见的。因此,传统的质量测试系统通常不使用高能力协议分析仪测试器。
不幸的是,根据传统技术,关于被测器件的故障的本质知之甚少。例如,可用的故障信息可能限于到故障的时间,例如,直到故障所经过的时间。关于故障时测试器系统的状态可能知之甚少。
发明内容
在质量测试环境中获得与测试故障相关的更多信息将是非常有价值和期望的。更具体地,期望捕获导致测试系统内的点处的测试故障的通信信息。此外,期望确定是否存在通信协议故障、器件机制故障或其他与硬件相关的故障。
因此,需要的是在故障的情况下实时捕获流量以进行协议调试的系统和方法。另外需要的是在故障的情况下实时捕获流量以进行协议调试的系统和方法,该系统和方法捕获导致测试系统内的点处的测试故障的通信信息。还需要的是在故障的情况下实时捕获流量以进行协议调试的系统和方法,该系统和方法与现有的自动测试设备的系统和方法兼容并互补。本发明的实施例提供这些优点并增强用户的体验。
根据本发明的实施例,用于同时测试多个器件的自动测试设备包括:流量捕获电路,被配置为捕获与被测器件的通信;捕获存储器,被配置为存储由流量捕获电路捕获的通信;和路由逻辑,被配置为从捕获存储器(例如,随机存取存储器(RAM))读取通信。针对多个器件中的每个器件,可以有一个流量捕获电路、一个捕获RAM以及一个路由逻辑。
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