[发明专利]冷头周期运动的补偿在审

专利信息
申请号: 201880006790.0 申请日: 2018-01-12
公开(公告)号: CN110178042A 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: C·L·G·哈姆;F·范利埃 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01R33/3815 分类号: G01R33/3815;G01R33/389;G01R33/3875
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 冷头 空间场 周期性出现 主磁体 辅助参数 测量 传感器测量结果 传感器测量 感兴趣对象 感兴趣区域 周期性运动 补偿信号 成像系统 检查空间 图像表示 重复运动 周期运动 磁共振 主绕组 触发 调制 冷却 施加 应用
【权利要求书】:

1.一种用于补偿来自磁共振(MR)成像系统(110)的主磁体(114)的冷头(212)的周期性运动的周期性B0调制的方法,其中,所述主磁体(114)的主绕组(200)被施加重复运动的所述冷头(212)冷却至超导,所述方法包括以下步骤:

访问基于作为时间的函数的所述冷头(212)的运动所述主磁体的磁场(B场)的空间场分量的周期性出现,

执行对所述MR成像系统(110)的、不是空间场分量的所述周期性出现的、周期性辅助参数的传感器测量,所述传感器测量包括执行对给所述MR成像系统(142)供电的市电的周期性电流和/或电压的测量(142),并且所述冷头的所述周期性移动被耦合到所述市电的电压的频率,

使所述B场的空间场分量的所述周期性出现与所述MR成像系统(110)的测得的周期性辅助参数同步,使所述B场的空间场分量的所述周期性出现与所述MR成像系统(110)的测得的周期性辅助参数同步的所述步骤包括使所述B场的空间场分量的所述周期性出现与所述市电(142)的电流和/或电压的给定数量的周期同步,

以及

基于所述MR成像系统(110)的测得的周期性传感器测量结果来触发补偿信号的周期性应用以补偿基于所述冷头(212)的运动的所述B场的空间场分量的所述周期性出现。

2.根据前述权利要求1所述的方法,其中,

所述方法包括确定所述B场的空间场分量的所述周期性出现的周期与所述市电(142)的所述电流和/或电压的若干周期相比较的步骤。

3.根据前述权利要求1或2中的任一项所述的方法,其中,

执行对给所述MR成像系统(110)供电的市电(142)的所述周期性电流和/或电压的测量的步骤包括测量所述市电(142)的所述电流和/或电压的完整正弦波形或者仅测量所述市电(142)的所述电流和/或电压的过零点。

4.根据前述权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中,

执行对给所述MR成像系统(110)供电的市电(142)的所述周期性电流和/或电压的测量的步骤包括:执行对所述MR成像系统(110)的技术控制室中的所述市电(142)的所述周期性电流和/或电压的测量。

5.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,

执行对所述MR成像系统(110)的、不是空间场分量的周期性出现的、周期性辅助参数的传感器测量的步骤包括:执行对所述MR成像系统(110)的、与所述B场的空间场分量的所述周期性出现具有相同周期的、周期性辅助参数的传感器测量。

6.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,

执行对所述MR成像系统(110)的、不是空间场分量的所述周期性出现的、周期性辅助参数的传感器测量的步骤包括:执行所述MR成像系统(110)的、与所述B场的空间场分量的所述周期性出现具有相同周期的、周期性辅助参数的传感器测量,以及执行对给所述MR成像系统(142)供电的市电(142)的所述周期性电流和/或电压的测量,并且

使所述B场的空间场分量的所述周期性出现与所述MR成像系统(110)的测得的周期性辅助参数同步的步骤包括:使所述MR成像系统(110)的、与所述B场的空间场分量的所述周期性出现具有相同周期的、周期性辅助参数与所述市电(142)的所述电流和/或电压的给定数量的周期同步。

7.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,

周期性地生成补偿信号以补偿所述B场的空间场分量的所述周期性出现的步骤包括调制系统谐振频率f0和驱动梯度放大器(X/Y/Z梯度)。

8.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,

基于作为时间的函数的所述冷头(212)的运动来测量所述B场的空间场分量的周期性出现的步骤包括至少一个高阶波形、特别是二阶波形,

周期性地生成补偿信号以补偿所述B场的空间场分量的所述周期性出现的步骤包括应用更高阶的匀场。

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