[发明专利]具有过程监测设施的加层制造设备

权利要求书

1.一种加层制造设备，包括：

壳体，所述壳体界定真空腔室并且具有视窗，所述视窗用于监测所述腔室的待执行加层制造的区域，

电子束生成和传输装置，所述电子束生成和传输装置用于生成电子束并且通过所述腔室将所述束传输到所述区域，用于作用在易熔粉末材料的连续层上，以便由其产生物品，

光学元件，所述光学元件布置在所述腔室中，以便拦截沿着所述区域和所述视窗之间的光学路径行进的所述材料的所释放气相组成，

以及加热装置，所述加热装置用于将所述光学元件加热到基本上防止所拦截的组成在其上冷凝的温度。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述视窗布置在所述束在所述腔室区域中的作用区的视线内，并且所述光学元件是光学透射的并且布置在所述光学路径中，以将所述视窗与所述区隔开。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述光学元件提供红外光谱中的透射。

4.根据权利要求2或权利要求3所述的设备，其中，所述光学元件是窗格玻璃或透镜。

5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述加热装置布置在所述窗格玻璃或透镜的周界处。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述视窗布置在所述束在所述腔室区域中的作用区的视线之外，并且所述光学元件是光学反射或折射的并且限定所述光学路径。

7.根据权利要求6所述的设备，其中，所述光学元件提供红外光谱中的反射或折射。

8.根据权利要求6或权利要求7所述的设备，其中，所述光学元件是反射镜或棱镜。

9.根据权利要求8所述的设备，其中，所述加热装置布置在所述反射镜或棱镜的远离所述腔室区域的侧面上方。

10.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，其中，所述壳体具有多个此类视窗，并且所述设备包括与每一视窗相关联的相应此类光学元件以及用于加热每一光学元件的相应此类加热装置。

11.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，其中，所述光学元件由具有至少700摄氏度的熔点的材料组成。

12.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，其中，所述光学元件由具有高达至少700摄氏度的基本上不变的光学特性的材料组成。

13.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，包括用于监测在所述腔室中执行的加层制造的至少一个参数的监测装置，所述监测装置布置在所述腔室的外部，以经由所述或每一视窗以及分别相关联的光学路径进行监测。

14.根据权利要求13所述的设备，所述监测装置包括用于捕获所述腔室区域内的图像的相机。

15.根据权利要求13所述的设备，所述监测装置包括用于测量所述至少一个参数的测量装置。

16.根据权利要求13所述的设备，所述测量装置包括激光测量仪器。