[发明专利]物体捕捉装置、捕捉对象物及物体捕捉系统有效
申请号: | 201880012152.X | 申请日: | 2018-02-08 |
公开(公告)号: | CN110312946B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 森利宏;山本明人;前田昌之;笠原隆弘 | 申请(专利权)人: | 北阳电机株式会社 |
主分类号: | G01S17/931 | 分类号: | G01S17/931;B65G1/00;G01C3/06;G01S7/481;G01S17/10;G01S7/48 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘文海 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 物体 捕捉 装置 对象 系统 | ||
1.一种物体捕捉装置,其是对存在于测定对象空间的物体进行捕捉的物体捕捉装置,其中,
所述物体捕捉装置具备:
发光部;
受光部;
光扫描部,其使从所述发光部出射的规定波长的测定光朝向测定对象空间扫描,并将针对所述测定光的来自所述物体的反射光向所述受光部引导;
距离运算部,其基于所述反射光相对于所述测定光的相位差或延迟时间,将距所述物体的距离与所述光扫描部的扫描角度建立对应关系地算出;以及
物体判别部,其基于由所述距离运算部算出的相邻的扫描角度下的各距离的差量成为规定的阈值以下的扫描角度范围是否与代表各距离的基准距离所对应的捕捉对象物的基准扫描角度范围相对应、以及该扫描角度范围内的反射光的强度分布是否与基于在所述捕捉对象物的反射面沿着测定光的扫描方向设定出的固有的反射特性的反射光的基准强度分布相对应,来判别所述物体是否为所述捕捉对象物部,
所述基准扫描角度范围及所述基准强度分布以所述扫描角度范围相对于所述测定光的扫描基准位置的偏差的程度为指标来确定。
2.根据权利要求1所述的物体捕捉装置,其中,
所述基准强度分布以距所述物体的距离为指标来确定。
3.根据权利要求1所述的物体捕捉装置,其中,
所述基准扫描角度范围及所述基准强度分布以基于所述扫描角度范围的各距离确定的所述捕捉对象物的反射面相对于所述测定光的光轴的倾斜角度为指标来确定。
4.根据权利要求1所述的物体捕捉装置,其中,
所述发光部构成为具备波长不同的多个光源,与各光源的波长对应地分别确定所述基准强度分布。
5.根据权利要求1所述的物体捕捉装置,其中,
在光扫描部设置有在所述测定光的光路中仅使沿着第一方向振动的光透过的偏振片、以及在所述反射光的光路中仅使沿着与所述第一方向正交的第二方向振动的光透过的检偏振器。
6.根据权利要求2所述的物体捕捉装置,其中,
所述基准扫描角度范围及所述基准强度分布以基于所述扫描角度范围的各距离确定的所述捕捉对象物的反射面相对于所述测定光的光轴的倾斜角度为指标来确定。
7.根据权利要求2所述的物体捕捉装置,其中,
所述发光部构成为具备波长不同的多个光源,与各光源的波长对应地分别确定所述基准强度分布。
8.根据权利要求2所述的物体捕捉装置,其中,
在光扫描部设置有在所述测定光的光路中仅使沿着第一方向振动的光透过的偏振片、以及在所述反射光的光路中仅使沿着与所述第一方向正交的第二方向振动的光透过的检偏振器。
9.根据权利要求3所述的物体捕捉装置,其中,
所述发光部构成为具备波长不同的多个光源,与各光源的波长对应地分别确定所述基准强度分布。
10.根据权利要求3所述的物体捕捉装置,其中,
在光扫描部设置有在所述测定光的光路中仅使沿着第一方向振动的光透过的偏振片、以及在所述反射光的光路中仅使沿着与所述第一方向正交的第二方向振动的光透过的检偏振器。
11.根据权利要求4所述的物体捕捉装置,其中,
在光扫描部设置有在所述测定光的光路中仅使沿着第一方向振动的光透过的偏振片、以及在所述反射光的光路中仅使沿着与所述第一方向正交的第二方向振动的光透过的检偏振器。
12.一种物体捕捉系统,其中,
所述物体捕捉系统包括:权利要求1所述的物体捕捉装置;以及具备反射光量沿着由所述光扫描部扫描的测定光的扫描方向阶段性地变化的反射面的捕捉对象物。
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