[发明专利]粒子表征装置和方法

权利要求书

1.一种用于确定粒子特性的装置，包括：

入口(30)和出口(32)；

流动系统(33)，所述流动系统(33)用于生成在所述入口(30)与所述出口(32)之间的流动路径，包含待被分析的粒子的加速流沿着所述流动路径被提供；

光源(34)，所述光源(34)用于将光提供给所述流动路径，其中所述光的包络限定测量区域，所述测量区域具有大于1cm的长度；

光检测器(38)，所述光检测器(38)用于检测从所述测量区域接收的已经由所述粒子散射的光；以及

控制器(41)，所述控制器(41)用于分析所检测到的接收光，

其中所述控制器适于：

确定粒子停留在所述测量区域中的持续时间，并且从而确定有效空气动力学粒子直径；

确定所检测到的接收光峰值强度，并且从而确定有效光学粒子直径；

确定与所述粒子的形状和/或密度相关的另外的粒子参数。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述控制器(41)适于：

将所述另外的粒子参数确定为粒子形状参数与粒子密度之间的比率。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述控制器(41)适于：

分析所检测到的接收强度随着时间的变化水平，并且从而得出粒子形状参数作为第一另外的粒子参数；以及

确定粒子密度作为第二另外的粒子参数。

4.根据权利要求1所述的装置，进一步包括：

第一偏振器(150)，所述第一偏振器(150)在所述光源与所述测量区域之间；以及

第二偏振器(152)，所述第二偏振器(152)在所述测量区域与所述光检测器之间，其中所述第二偏振器具有：第一部分(152a)，所述第一部分(152a)具有与所述第一偏振器的匹配偏振；以及第二部分(152b)，所述第二部分(152b)具有与所述第一偏振器的正交偏振。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述控制器(41)适于：

通过所述第二偏振器的所述第一部分和所述第二部分来分析所检测到的接收光峰值强度，以得出粒子形状参数作为第一另外的粒子参数；以及

确定粒子密度作为第二另外的粒子参数。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中所述流动系统包括被连接至所述出口的扇(33)，并且其中所述装置进一步包括：

外部封壳(42)；

过滤器布置(44)，所述过滤器布置(44)被耦合至另一对入口；以及

导流板布置(46)，所述导流板布置(46)用于控制来自所述过滤器布置的所述流以及用于控制所述流动路径。

7.根据权利要求6所述的装置，其中所述过滤器布置(44)包括在所述流动路径的相对侧的第一过滤器和第二过滤器，并且所述导流板布置包括对应的第一导流板和第二导流板(46)。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，适于在所述测量区域内沿着所述流动路径提供对所述流的均匀加速。

9.一种用于获取粒子特性的方法，包括：

沿着入口与出口之间的流动路径，生成(180)包含粒子的加速流；

控制光源(182)以将光提供给所述流动路径，其中所述光的包络限定测量区域，所述测量区域具有在1cm与6cm之间的长度；

检测(184)从所述测量区域接收的已经由所述粒子散射的光；

确定(186)粒子停留在所述测量区域中的持续时间，并且从而确定有效空气动力学粒子直径；

确定(188)所检测到的接收光峰值强度，并且从而确定有效光学粒子直径；以及

确定(190)与所述粒子的形状和/或密度相关的另外的粒子参数。

10.根据权利要求9所述的方法，包括：

将所述另外的粒子参数确定为粒子形状参数与粒子密度之间的比率。