[发明专利]用于确定基于激光的颗粒探测器的操作条件的方法

权利要求书

1.一种用于确定颗粒探测器(200)的操作条件的方法，所述颗粒探测器用于探测流体中的具有小于20μm的尺寸的颗粒的颗粒密度，其中，所述颗粒探测器(200)包括激光器(111)，其中，所述激光器是多模垂直腔表面发射激光器，所述方法包括以下步骤：

向所述激光器(111)提供驱动电流，使得所述激光器发射激光束(112)，

在预先定义的驱动电流范围内改变所述驱动电流，

确定作为所述驱动电流的函数的、所述激光器(111)的激光腔内的光波的强度信号，

确定作为所述驱动电流的函数的、所述强度信号的噪声度量，

确定使所述噪声度量低于预先定义的阈值的驱动电流范围，

通过从所确定的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的驱动电流来确定所述颗粒探测器(200)的操作条件的至少一部分，

在所述颗粒探测器(200)的操作期间探测触发事件，

在所述颗粒探测器(200)的操作期间确定所述激光器(111)的激光腔内的光波的激光腔中的强度信号的噪声度量，

如果所述噪声度量在所述颗粒探测器(200)的操作期间超过操作阈值，则确定新的驱动电流范围，

通过从所确定的新的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的新的驱动电流来确定所述颗粒探测器的操作条件的至少一部分。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，进一步地作为环境温度的函数确定驱动电流范围，其中，根据颗粒探测期间的环境温度选择用于颗粒探测的驱动电流。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，进一步地作为所述颗粒探测器(200)的操作温度的函数确定所述驱动电流范围，其中，根据颗粒探测期间的操作温度选择用于颗粒探测的驱动电流。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述触发事件是：探测到在所述颗粒探测器(200)的操作期间所述激光器(111)的激光腔内的光波的激光腔中的自混合干涉信号的信号/噪声比低于信号/噪声比阈值。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述触发事件是：接通所述颗粒探测器(200)。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述触发事件是：预先确定的时间段的期满。

7.根据权利要求1或2所述的方法，所述方法包括以下附加步骤：

在新的驱动电流的情况下开始所述颗粒探测器(200)的校准过程。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述颗粒探测器用于探测流体中的具有小于10μm的尺寸的颗粒的颗粒密度。

9.一种颗粒探测器(200)，其用于探测流体中的具有小于20μm的尺寸的颗粒的颗粒密度，其中，所述颗粒探测器(200)包括激光器(111)，其中，所述颗粒探测器(200)还包括用于向所述激光器(111)提供驱动电流的电驱动器(130)，其中，所述颗粒探测器(200)还包括耦合到所述激光器(111)的探测器(121)，所述探测器用于确定激光器(111)的激光腔内的光波的自混合干涉信号，其中，所述颗粒探测器(200)还包括控制器(150)，其特征在于所述激光器是多模垂直腔表面发射激光器，并且在于，所述颗粒探测器被布置用于确定触发事件，其中，所述控制器(150)被布置用于在探测到所述触发事件之后提供控制信号以控制所述电驱动器(130)在预先定义的驱动电流范围内改变所述激光器(111)的驱动电流，其中，所述控制器(150)还被布置用于基于由所述探测器(121)提供的探测信号，确定作为所述驱动电流的函数的、所述激光腔中的强度信号的噪声度量，其中，所述控制器(150)还被布置用于确定使所述噪声度量低于预先定义的阈值的驱动电流范围，其中，所述控制器(150)还被布置用于从所确定的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的驱动电流，其中，所述控制器(150)还被布置用于控制所述电驱动器(130)以在所述颗粒探测器(200)的操作期间提供所述驱动电流。