[发明专利]存储器装置和用于操作或测试存储器装置的方法

说明书

一种存储器装置，包括非易失性存储器平面(2)、替换平面(3)、地址选择块(302)和具有至少一个计数器(310至312)的计数器装置(300)。该至少一个计数器(310至312)配置为以存储器装置(1)的写周期递增。地址选择块(302)配置为，在该至少一个计数器(310至312)的计数器值高于预定限制的情况下，从非易失性存储器平面(2)切换到替换平面(3)。

本专利申请涉及一种存储器装置、一种操作存储器装置的方法和一种测试存储器装置的方法。

存储器装置通常包括非易失性位单元。位单元能够承受大量的耐久性周期。位单元的故障通常会限制存储器装置的寿命。

目的是提供一种存储器装置、一种操作存储器装置的方法和一种测试存储器装置的方法，这允许增加存储器装置的寿命。

该目的由独立权利要求解决。在从属权利要求中描述了进一步的发展和实施例。

在实施例中，存储器装置包括非易失性存储器平面、替换平面、地址选择块和具有至少一个计数器的计数器装置。所述至少一个计数器配置为在存储器装置的写周期递增。地址选择块配置为，在所述至少一个计数器的计数器值高于预定限制的情况下，从非易失性存储器平面切换到替换平面。

有利地，从第一写周期直到写周期的预定限制，在非易失性存储器平面中存储信息，并且针对超过预定限制的写周期，在替换平面中存储信息。地址选择块耦合到非易失性存储器平面、替换平面和计数器装置。非易失性存储器平面也能够称为非易失性存储器阵列。替换平面也能够称为替换阵列。位单元也能够称为存储单元。

在实施例中，所述至少一个计数器在非易失性存储器平面的预选位单元的每个写周期递增。如果所述至少一个计数器的计数器值高于预定限制，则地址选择块从非易失性存储器平面的预选位单元切换到替换平面的替换位单元。

有利地，仅由预选位单元的写周期由至少一个计数器计数，因为仅该预选位单元的写周期而不是非易失性存储器平面的写周期导致该预选的故障。

在实施例中，计数器装置包括第一数量N个计数器。非易失性存储器平面包括第二数量M个预选位单元。

在实施例中，存储器装置包括地址替换平面，地址替换平面存储第二数量M个预选位单元的地址。

在实施例中，第二数量M个预选位单元的地址在测试阶段中确定。

在实施例中，存储器装置包括地址替换平面，地址替换平面存储预选位单元的地址和替换位单元的地址。地址选择块耦合到地址替换平面。地址替换平面能够称为地址替换阵列。

在实施例中，存储器装置还包括关于预定限制的信息。地址替换平面可以存储预定限制本身的值，或者可以存储作为预定限制的函数的信息。该信息可以是关于周期类的信息。

在实施例中，地址替换平面另外存储了状态位，该状态位指示何时使用替换位单元而不是预选位单元。

在实施例中，第二数量M等于或小于第一数量N。第一数量N个计算器之一在第二量M个预选位单元的相应预选位单元的每个写周期递增。如果所述计数器的计数器值高于对应于所述预选位单元的预定限制，则地址选择块从非易失性存储器平面的预选位单元切换到替换平面的相应替换位单元。

有利地，非易失性存储器平面的预选位单元用于达到预定限制的第一写周期，则替换平面的相应替换位单元用于超过预定限制的写周期。

在实施例中，地址替换平面存储了第二数量个替换位单元的地址。

在实施例中，写周期的预定限制是相等的。在相同计数器值时，每个预选位单元切换到相应的替换位单元。因此，位单元分组为两个周期类。

在进一步的发展中，地址替换平面还存储关于第二数量个预定限制的信息。