[发明专利]用于增材制造在建评估和校正激光指向精度的系统和方法在审
申请号: | 201880015421.8 | 申请日: | 2018-01-11 |
公开(公告)号: | CN110402173A | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | 维克托·彼得罗维奇·奥斯特韦克霍夫;哈里·柯克·小马修斯;贾斯汀·约翰·小甘伯恩;杰森·哈里斯·卡普;凯文·乔治·哈丁;斯科特·迈克尔·米勒 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | B22F3/105 | 分类号: | B22F3/105;B33Y30/00 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 构建 对齐系统 基准标记 激光设备 扫描设备 激光束 光学检测器 激光束引导 评估和校正 投影仪 激光指向 制造系统 检测 熔池 投射 穿过 制造 | ||
1.一种增材制造系统,其特征在于,包括:
激光设备,所述激光设备被构造为生成激光束;
构建板,所述构建板具有相对于所述激光设备的位置;
第一扫描设备,所述第一扫描设备被构造为选择性地在所述构建板上引导所述激光束,其中所述激光束在所述构建板上生成熔池;和
对齐系统,所述对齐系统包括:
基准标记投影仪,所述基准标记投影仪被构造为在所述构建板上投射多个基准标记,每个基准标记具有在所述构建板上的位置;和
光学检测器,所述光学检测器被构造为检测所述构建板上的每个所述基准标记的所述位置,其中所述对齐系统被构造为检测所述构建板相对于所述激光设备的所述位置。
2.根据权利要求1所述的增材制造系统,其特征在于,进一步包括控制器,所述控制器构造成使所述构建板与所述激光设备对齐。
3.根据权利要求2所述的增材制造系统,其特征在于,其中所述控制器构造成使所述构建板与所述第一扫描设备对齐。
4.根据权利要求2所述的增材制造系统,其特征在于,其中所述第一扫描设备包括多个镜子,所述多个镜子构造成在构建板上引导所述激光束,所述控制器进一步构造成使所述多个镜子与所述构建板对齐。
5.根据权利要求1所述的增材制造系统,其特征在于,其中所述基准标记投影仪包括多个激光器,所述多个激光器构造成将所述多个基准标记投射在所述构建板上。
6.一种增材制造系统,其特征在于,包括:
激光设备,所述激光设备构造为生成激光束;
构建板,所述构建板具有相对于所述激光设备的位置,所述构建板包括设置在所述构建板的顶侧上的多个基准标记,每个基准标记具有在所述构建板上的位置;
第一扫描设备,所述第一扫描设备被构造为选择性地在所述构建板上引导所述激光束,其中所述激光束在所述构建板上生成熔池;和
对齐系统,所述对齐系统包括光学检测器,所述光学检测器被构造为检测所述构建板上的每个所述基准标记的所述位置,其中所述对齐系统被构造为检测所述构建板相对于所述激光设备的所述位置。
7.根据权利要求6所述的增材制造系统,其特征在于,进一步包括控制器,所述控制器构造成使所述构建板与所述激光设备对齐。
8.根据权利要求7所述的增材制造系统,其特征在于,所述控制器构造成使所述构建板与所述第一扫描设备对齐。
9.根据权利要求7所述的增材制造系统,其特征在于,其中所述第一扫描设备包括多个镜子,所述多个镜子被构造为在构建板上引导所述激光束,所述控制器进一步被构造为将所述多个镜子与所述构建板对齐。
10.根据权利要求6所述的增材制造系统,其特征在于,其中所述多个基准标记包括设置在所述构建板的所述顶侧上的多个球形。
11.一种增材制造系统,其特征在于,包括:
激光设备,所述激光设备构造为生成激光束;
构建板,所述构建板具有相对于所述激光设备的位置,所述构建板包括设置在所述构建板的底侧上的多个基准标记,每个基准标记具有在所述构建板上的位置;
第一扫描设备,所述第一扫描设备被构造为选择性地在所述构建板上引导所述激光束,其中所述激光束在所述构建板上生成熔池;和
对齐系统,所述对齐系统包括光学检测器,所述光学检测器被构造为检测所述构建板上的每个所述基准标记的所述位置,其中所述对齐系统被构造为检测所述构建板相对于所述激光设备的所述位置。
12.根据权利要求11所述的增材制造系统,其特征在于,进一步包括控制器,所述控制器构造成使所述构建板与所述激光设备对齐。
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