[发明专利]测试装置与用于测试电路板的方法

说明书

本发明涉及一种测试装置以及一种用于测试电路板(特别是未经装配或经部分装配的电路板)的方法。测试装置为具有梭或两个子梭的飞针，梭或两个子梭可以交替方式将待测试的电路板位移至测试区域。另外，子梭可用于共同固持大型电路板。

技术领域

本发明涉及一种测试装置以及一种用于测试电路板的方法。

背景技术

用于测试电路板的测试装置可一般分成两组，一组为飞针(flying probes) 且一组为并行测试装置。并行测试装置为借助配接器同时接触待测试的电路板的所有或至少大部分的接触点的测试装置。飞针为借助二或更多个测试指状物 (test finger)测试未经装配的、经部分装配的或经装配的电路板，进而扫描独立接触点的测试装置。

测试指状物通常被紧固至支架，该支架可沿着横动装置位移，其中所述横动装置本身继而被导引并可沿着导引轨位移。测试指状物中的每一个包含枢轴臂(pivot arm)，在该枢轴臂的末端处具有接触电路板的接触尖端。测试指状物以及他们的接触尖端因此可借助位移支架并旋转枢轴臂而定位在通常为矩形的测试场的任何位置处。为了接触待测试的电路板的接触点，支架被配置为可在横动装置上垂直地位移，或者测试指状物被配置为可在支架上垂直地移动，使得测试指状物可分别从上方或从下方放到电路板的接触点、电路板测试点上。

EP 0 468 153 A1描述了一种飞针，且EP 0 853 242 A1描述了一种借助飞针测试电路板的方法。EP 1 451 594 B1、US 6,384,641 B1、WO 03/096037 A1及 EP 0 990 912A2公开了用于飞针的测试探针。

已知地，对此飞针提供至少两个可位移接触指状物，以允许到达在第一坐标方向中沿着横动轴彼此隔开的测试点，且在测试场上方提供多个横动装置，且(至少对于在双面上印刷的电路板的测试)在测试场下方提供多个横动装置，以允许到达在横向于横动轴的第二坐标方向中沿着横动轴彼此隔开的测试点。原则上，在电容性测量时，可仅使用一个测试指状物来测试导体路径。理论上，在此情况中，将仅需要一个测试指状物。然而较佳的是在轨道上布置两个测试指状物，由于欧姆测量需要闭合电路，且由此需要两个测试指状物。使用利用飞针的自动化测试方法的关键因素是横动装置相对于彼此以及相对于测试场的位置是准确地已知的。在EP 0 468 153 A1所描述的飞针中，横动装置可位移地安装在相对于测试指状物的位移方向垂直的框架中。归因于在位移横动装置时的在许多情况中无法避免的间距(clearance)，横动装置的距离具有某一范围的公差，且取决于所使用的驱动系统，横动装置的距离舍弃某一范围的公差且归因于滑动事件而必需经重新调整。对于至少四个横动装置所涉及的调整和校准处理是复杂的，并且经常导致不精确。

此外，其中横动装置固定地布置在框架中的飞针是已知的。由于横动装置独立地悬吊在电路板上方和下方的框架上，横动装置必需独立且小心地调整。可根据横动装置之间的距离来优化枢轴臂的长度，以能够由最佳的方式到达横动装置之间的测试场。若要对更改的处理条件(例如，因为要增加或减小扫描密度)来适配或调整此飞针，则要安装额外的横动装置或者移除或重新布置现有的横动装置。这需要相当多的努力以相对于彼此及测试场调整横动装置，并需要校准软件。

EP 0 458 280 A2公开了一种用于测试电路板的装置，该装置包含多个可分开位移的横动装置，其中在每个横动装置上提供具有接触指状物的测试头，该接触指状物接触电路板的接触点。

EP 1 217 382 A2公开了另一种用于测试电路板的装置，该装置包含可位移的横动装置。可位移的横动装置中的每一个具有可移动地布置在其上的测试头，在该测试头上布置接触指状物以接触电路板的测试点。

归因于亦经由电路板的导体路径发送高频信号的事实，越来越小型化的电路板导致相当多的问题。为了能够正确地经由导体路径发送高频信号，导体路径必需不具有过量的电阻。导体路径的电阻一般必需小于或等于预定电阻，预定电阻可在1μΩ至100Ω的范围中。然而，在生产电路板时不能总是确保观察此电阻值。