[发明专利]侧流测试系统

权利要求书

1.一种侧流测试系统，其包括光学读取器、侧流芯和计算机系统，所述侧流芯具有近端部分和远端部分并且包括多孔测试条带，所述多孔测试条带包括和/或接触采样区和具有条带长度以及支撑所述多孔测试条带的芯壳体，其中所述芯壳体具有用于将液体施加到所述采样区的入口开口和在远端部分处进入所述多孔测试条带中的至少一个读取窗口，从而至少暴露所述多孔测试条带的暴露区，所述暴露区具有长度和宽度，所述暴露区至少包括在所述采样区远端的一部分，

所述光学读取器包括读取器壳体以及用于将所述测流芯的至少所述远端部分插入到所述读取器壳体中的狭槽，所述光学读取器还包括照明装置，所述照明装置适合于在所述测流芯插入到所述读取器壳体的所述狭槽中时照亮所述多孔测试条带的所述至少一个暴露区，以及摄像机，所述摄像机被配置成用于采集包括所述多孔测试条带的所述暴露区的一系列数字图像，其中所述读取器被配置成用于传输每个数字图像作为像素数据集，

所述计算机系统包括存储介质和处理器，所述处理器被配置成用于接收表示多个连续数字图像的所述像素数据集并且用于基于从所述连续数字图像的光反射的变化来计算沿着所述多孔测试条带的所述暴露区的所述长度的湿润进展，

其中所述摄像机包括像素传感器阵列，所述摄像机具有包括像素的行和列N×M的像素阵列；

其中所述处理器被配置成用于通过方法来限定所述像素传感器阵列的L像素列和W像素行，所述方法包括比较像素数据集的像素值并确定所述多孔测试条带的取向并且限定与所述多孔测试条带的长度对准的L像素列和与所述多孔测试条带的宽度对准的W像素行；以及

其中所述处理器比较所述连续数字图像的两个或更多个像素数据集的至少一个l，w像素，来确定在所述多孔测试条带的对应于所述W像素行和L像素列的坐标系中的所述l，w像素的位置处光反射因湿润而改变的时间。

2.如权利要求1所述的系统，其中所述摄像机是网络摄像机，以至少0.1 Hz的帧速率操作。

3.如权利要求1所述的系统，其中所述像素传感器阵列包括CMOS或CDD。

4.如权利要求3所述的系统，其中所述像素阵列具有至少50%的填充因数。

5.如权利要求1所述的系统，其中所述摄像机被布置在相对于所述插入的芯的固定位置。

6.如权利要求4或5中任一项所述的系统，其中所述摄像机被布置成使得其像素行和列分别与所述多孔测试条带的宽度和长度对准，由此限定L像素列和W像素行。

7.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器被配置成用于通过方法来比较像素数据集的像素值，所述方法包括针对多个相机像素行中的每一个确定平均值或平均相机行像素值并且确定具有高于或低于所述相机行像素值至少10%的像素值的像素。

8.如权利要求7所述的系统，其中所述处理器被配置成用于确定具有高于或低于相应的平均值或平均相机行像素值至少10%的像素值的所述多个相机像素行中的每一个的第一像素和最后像素，并且基于所述多个相机像素行中的每一个的所述确定的第一像素和最后像素的位置，确定所述多孔测试条带的所述取向。

9.如权利要求7所述的系统，其中所述侧流芯包括对准基准标记，所述对准基准标记具有与所述暴露区周围的所述壳体的反射率相差至少10%，所述处理器被配置成用于确定收集从所述对准基准标记反射的光子的所述多个相机像素行的所述像素，并且基于收集从所述对准基准标记反射的光子的所述确定的像素的位置，确定所述多孔测试条带的所述取向。

10.如权利要求6所述的系统，其中所述处理器被配置成用于从一个像素数据集或者两个或更多个像素数据集的像素值限定L像素列和W像素行。

11.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器被配置成用于在采集所述系列数字图像的所述图像时连续地接收所述多个连续数字图像的所述像素数据集。