[发明专利]电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统

说明书

电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、存储部(13)、以及控制部(14)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)具有多个检测元件。多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。存储部(13)存储关联信息。关联信息是将电磁波的发射方向与分别限定路径上的两点的要素中的任意两个相关联的信息。路径是从照射部(11)发射的电磁波经由对象(ob)至第一检测部(17)的路径。控制部(14)基于电磁波的发射方向以及在多个检测元件中检测到电磁波的反射波的检测元件的位置来更新关联信息。

相关申请的相互参照

本申请要求2017年3月17在日本申请的日本特愿2017-053552的优先权，并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。

技术领域

本发明涉及一种电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统。

背景技术

近年来，开发了一种从发射的电磁波的反射波的检测结果来获得与周围相关的信息的装置。例如，已知一种使用激光雷达来测量物体的位置的装置(参考专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-220732号公报。

发明内容

第一观点的电磁波检测装置包括：

发射电磁波的照射部；

第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；

存储部，存储将所述电磁波的发射方向与分别限定从所述照射部发射的电磁波经由所述对象到所述第一检测部为止的路径上的两点的要素中的任意两个相关联的关联信息；以及

控制部，基于所述电磁波的发射方向以及在所述多个检测元件中检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述关联信息。

另外，第二观点的电磁波检测系统包括：

发射电磁波的照射部；

第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；

存储部，存储将所述电磁波的发射方向与分别限定从所述照射部发射的电磁波经由所述对象到所述第一检测部为止的路径上的两点的要素中的任意两个相关联的关联信息；以及

控制部，基于所述电磁波的发射方向以及在所述多个检测元件中检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述关联信息。

另外，第三观点的程序使装置执行如下步骤：

发射电磁波；

由多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波；

基于所述电磁波的发射方向以及在所述多个检测元件中检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新将所述电磁波的发射方向与分别限定电磁波经由所述对象到所述多个检测元件中的任一个为止的路径上的两点的要素中的任意两个相关联的关联信息。

附图说明

图1是示出一实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。

图2是用于说明图1的电磁波检测装置的行进部中的像素在第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的电磁波检测装置的结构图。

图3是示出在图1的电磁波检测装置中，发射的电磁波经由对象到第一检测部为止的路径上的各点中的与任意的发射方向相对应的位置的概念图。

图4是示出存储在图1的存储部中的第一关联信息的一个例子的图。