[发明专利]探针插座

说明书

本发明揭示一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚，平行于电源接脚布置；支撑块，用于容纳及支撑相平行的多个电源接脚或接地接脚；以及导电板，以横向于电源接脚及接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部，且具有用于使多个电源接脚共同电连接的电源连接图案及用于使多个接地接脚共同电连接的接地连接图案中的至少一者。

技术领域

本发明涉及一种改良电阻及电流特性的探针插座。

背景技术

使用探针插座以检查半导体及其类似待测试装置的电特性。最近，待测试装置已减小间距但增大了可允许电流。因此，探针插座的电源接脚及接地接脚的电阻及电流特性已成为极重要的因素。如图1中所示，探针插座1包含支撑块10，其中插入多个电源接脚20及接地接脚30。待测试装置经由电源接脚群接收电源且经由接地接脚群储集。随着每一接脚的使用的数目增加，由于外来材料(例如氧化锡)累积于上部柱塞及接脚的接触尖端上或接触尖端磨损，因此探针插座1的电阻大大地增大。结果，电流不平稳地流动，且因此于一些接脚中发生过载(或过电流)，因而导致缩短接脚的使用寿命的问题。

图2为说明现有探针插座1的电流特性的视图。由于在自被分为一个组的多个接地接脚30-1至30-4中的左侧(亦即接地接脚30-1)的第二接脚的上部柱塞接触尖端累积外来材料或磨损而使电阻极高时，失效接地接脚30-1可能导致一个群组内的其他接地接脚30-2至30-4过载。结果，一个接地接脚30-1的失效使其他接地接脚30-2至30-4过载，且因此缩短整个群组的使用寿命。

发明内容

技术问题

本发明设想解决上述问题，且提供一种探针插座，其中组合为群组的多个电源接脚或多个接地接脚改良电阻及电流特性从而延长电源接脚或接地接脚的使用寿命。

技术方案

根据本发明的一实施例，揭示一种探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，经设置以与待测试对象的电源端子相接触；支撑块，经设置以容纳及支撑平行设置的多个电源接脚；以及导电板，以横向于电源接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有电源连接图案以使多个电源接脚共同电连接。在根据本发明的探针插座中，即使多个电源接脚中的某一电源接脚存在障碍，具有所述障碍的电源接脚仍可经由导电板使用以用于共同连接，因而延长一个群组内的其他电源接脚的使用寿命。

探针插座可还包含多个接地接脚，所述多个接地接脚经设置以与待测试对象的接地端子相接触，且支撑于支撑块中，其中导电板以横向于接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有接地连接图案以使多个接地接脚共同电连接。在根据本发明的探针插座中，即使多个接地接脚中的某一接地接脚存在障碍，具有所述障碍的接地接脚仍可经由导电板使用以用于共同连接，因而延长一个群组内的其他接地接脚的使用寿命。

可将电源连接图案或接地连接图案布置于绝缘薄片上。

导电板可包含具有电源连接图案的第一导电板，以及具有接地连接图案的第二导电板。

电源连接图案或接地连接图案可包含电源接触通孔或接地接触通孔，电源接脚或接地接脚在穿过所述电源接触通孔或接地接触通孔时与所述电源接触通孔或所述接地接触通孔电接触。

电源连接图案或接地连接图案可包含朝向电源接触通孔或接地接触通孔的中心凸起的多个接触部分。

电源接触通孔或接地接触通孔的形状可如三叶草形、星形、十字形、圆形以及多边形形状中的一种。

电源接触通孔或接地接触通孔的直径可小于电源接脚或接地接脚的外径。

有益效果

根据本发明，组合成一组的多个电源接脚或多个接地接脚的电阻和电流特性得到改善，从而延长了电源接脚或接地接脚的寿命。

附图说明