[发明专利]治疗和/或预防与放射和/或化疗暴露有关的副作用的方法、组合物以及试剂盒

权利要求书

1.一种治疗和/或预防受试者在放射和/或化疗暴露过程中和/或之后与放射和/或化疗暴露有关的一种或多种副作用的方法，所述方法包括：

在放射和/或化疗暴露之前、过程中或之后，给所述受试者施用约0.05 mg/kg至约1mg/kg乘以BMX-001的活性当量的量的负载剂量的活性剂；

其中所述活性剂是meso-取代的金属卟啉。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述活性剂是超氧化物歧化酶（SOD）模拟物。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述活性剂是式I的化合物或其药学可接受的盐：

其中：

各R是独立选择的取代或非取代的芳基、杂芳基、环烷基或杂环烷基；

各A是独立选择的氢、吸电子基团或供电子基团；

M是金属；以及

Z–是平衡离子。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其中所述活性剂具有式A1的结构：

其中：

各R是C1-12烷基或C1-C12烷氧基烷基；

各A独立地是氢或吸电子基团；

M是金属，所述金属选自锰、铁、铜、钴以及镍；以及

Z–是平衡离子。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述活性剂具有下式：

其中Z-是平衡离子。

6.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其中所述活性剂具有式B1的结构：

其中：

各R是C1-12烷基或C1-C12烷氧基烷基；

各A独立地是氢或吸电子基团；

M是金属，所述金属选自锰、铁、铜、钴以及镍；以及

Z–是平衡离子。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述活性剂具有下列结构：

其中Z^-是平衡离子。

8.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其中所述活性剂具有式C1的结构：

其中：

各R独立地是氢或―(CH₂)_mCH₂OX；

m是1或2；

X是C1-12烷基；

各A独立地是氢或吸电子基团；

M是金属，所述金属选自锰、铁、铜、钴以及镍；以及

Z–是平衡离子。

9. 根据权利要求8所述的方法，其中所述活性剂具有下列结构：

Z^-; 或

Z^-;

其中Z^-是平衡离子。

10.一种治疗和/或预防受试者在放射和/或化疗暴露过程中和/或之后与放射和/或化疗暴露有关的一种或多种副作用的方法，所述方法包括：

在放射和/或化疗暴露之前、过程中或之后，给所述受试者施用约0.05 mg/kg至约1mg/kg的量的负载剂量的活性剂；

其中所述活性剂具有下列结构：

Z^-;

其中Z^-是平衡离子。

11. 任何前述权利要求所述的方法，其中以约0.1 mg/kg至约0.6 mg/kg或约0.1 mg/kg至约0.6 mg/kg乘以BMX-001的活性当量的量将所述负载剂量施用于所述受试者。

12.任何前述权利要求所述的方法，其中在受试者暴露于放射和/或化疗之前约30分钟至约4天或约1小时至约48小时将所述负载剂量施用于所述受试者。

13.任何前述权利要求所述的方法，其中在受试者暴露于放射和/或化疗过程中和/或之后将所述负载剂量施用于所述受试者。