[发明专利]光检测器有效
申请号: | 201880024309.0 | 申请日: | 2018-04-09 |
公开(公告)号: | CN110622324B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 东谦太;尾崎宪幸;柏田真司;木村祯祐;高井勇;松原弘幸;太田充彦;平塚诚良 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 金雪梅;王玮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测器 | ||
1.一种光检测器,具备:
多个受光部,具备构成为响应光子的入射的SPAD,并构成为若SPAD作出响应则该受光部输出脉冲信号;以及
脉冲率控制电路(20),构成为控制上述多个受光部的灵敏度,以使从上述多个受光部输出的上述脉冲信号的每单位时间的输出数亦即脉冲率的平均成为预先设定的设定值、包含该设定值的设定范围内、该设定值以上、或者该设定值以下,
上述光检测器具备分立输出开关,上述分立输出开关构成为从上述多个受光部中,选择输出脉冲信号的受光部,
上述脉冲率控制电路构成为通过经由上述分立输出开关,使输出上述脉冲信号的上述受光部的数量变化,来控制上述多个受光部的灵敏度。
2.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为通过对来自上述受光部的上述脉冲信号的输出进行计数来测定上述脉冲率。
3.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为能够根据外部信号来设定上述设定值。
4.根据权利要求2所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为能够根据外部信号来设定上述设定值。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的光检测器,其中,
具备性能监视电路(50),该性能监视电路构成为将由上述脉冲率控制电路为了进行上述脉冲率的控制而设定的控制值,作为表示该光检测器的性能的数据存储。
6.根据权利要求1~4中任一项所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为基于上述脉冲率的控制结果,来进行该光检测器的故障判定。
7.根据权利要求5所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为基于上述脉冲率的控制结果,来进行该光检测器的故障判定。
8.一种光检测器,具备:
多个受光部,具备构成为响应光子的入射的SPAD,并构成为若SPAD作出响应则输出脉冲信号;
阈值判定电路,构成为若从上述多个受光部输出的脉冲信号的数量达到阈值,则输出检测信号;以及
脉冲率控制电路,构成为控制上述多个受光部的灵敏度以及上述阈值判定电路的阈值的至少一方,以使来自上述阈值判定电路的上述检测信号的每单位时间的输出数亦即脉冲率成为预先设定的设定值、包含该设定值的设定范围内、该设定值以上、或者该设定值以下。
9.根据权利要求8所述的光检测器,其中,
具备可变阈值判定电路,该可变阈值判定电路具备将上述阈值设定为不同的值的多个上述阈值判定电路,并构成为选择从该多个阈值判定电路输出的检测信号的一个检测信号并输出,
上述脉冲率控制电路构成为通过分别对从设置于上述可变阈值判定电路的多个上述阈值判定电路输出的检测信号进行计数来测定上述脉冲率,并且基于该测定结果设定上述可变阈值判定电路所选择的上述阈值判定电路。
10.根据权利要求8所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为通过使对上述SPAD施加的反向偏置电压变化,来控制上述受光部的灵敏度。
11.根据权利要求9所述的光检测器,其中,
上述脉冲率控制电路构成为通过使对上述SPAD施加的反向偏置电压变化,来控制上述受光部的灵敏度。
12.根据权利要求8所述的光检测器,其中,
具备分立输出开关,该分立输出开关构成为从上述多个受光部中,选择向上述阈值判定电路输出脉冲信号的受光部,
上述脉冲率控制电路构成为通过经由上述分立输出开关,使向上述阈值判定电路输出脉冲信号的上述受光部的数量变化,来控制上述受光部的灵敏度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的