[发明专利]用于调制装置的驱动技术有效

专利信息
申请号: 201880024667.1 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN111033603B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 凯文·M·弗格森 申请(专利权)人: 斯纳普公司
主分类号: G09G3/20 分类号: G09G3/20;G09G3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;杨林森
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 调制 装置 驱动 技术
【权利要求书】:

1.一种生成序列的查找表以驱动显示电路的至少一个像素的方法,包括:

生成多个二进制序列,每个序列具有在驱动时间段内布置的多个二进制值,并且其中,所述多个二进制序列中的每一个具有相应的占空比和目标相位响应;

在所述驱动时间段内将所述多个二进制序列中的每一个应用于所述至少一个像素;

在将所述多个二进制序列的每一个应用于所述至少一个像素之后测量来自所述至少一个像素的相位响应,并且生成相位响应数据;

对于所述多个二进制序列中的每一个,识别和与所生成的多个序列中的每一个相关联的所述目标相位响应的量最接近的第一测量相位响应,以及和与所生成的多个序列中的每一个相关联的目标相位响应的量次最接近的第二测量相位响应,并且生成至少两个所识别的相位响应;以及

基于所述相位响应数据和所述目标相位响应利用占空比生成内插二进制序列。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,测量相位响应中的每一个与如下占空比相关联:该占空比与生成测量相位响应的所述二进制序列相关联,并且其中,生成内插二进制序列的步骤包括:

计算与所述至少两个所识别的相位响应中的每一个相关联的占空比量之间的占空比差;

计算所述第一测量相位响应和所述第二测量相位响应的相位量之间的相位响应差;以及

基于所述占空比差和所述相位响应差生成斜率数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述内插二进制序列从内插的占空比导出,并且其中,占空比的内插的步骤包括:

识别与所述第一测量相位响应相关联的占空比;

计算所述目标相位响应与所述第一测量相位响应之间的差,并且生成新的目标相位响应数据;

将所述斜率数据与所述新的目标响应数据相乘,并且生成提取的相位响应数据;以及

将所提取的相位响应数据加至所识别的与第一测量相位响应相关联的占空比。

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