[发明专利]成像元件和包括成像元件的电子设备有效

专利信息
申请号: 201880025924.3 申请日: 2018-03-20
公开(公告)号: CN110546950B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 松沼健司;本田元就 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: H04N9/07 分类号: H04N9/07;G01J1/02;G01J1/04;G02B5/20;G02B5/30;H01L27/146;H04N5/225;H04N5/33;H04N5/369
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 王新春;曹正建
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 成像 元件 包括 电子设备
【说明书】:

在成像元件中,各自具有光电转换部的多个像素排列成二维矩阵。在所述多个像素中的一些像素中,在光束入射面侧以像素为单位布置有偏振器,并且其中未布置偏振器的像素中的至少一些像素具有以像素为单位布置的材料层,所述材料层防止具有预定范围的波长的光束透射,以减少其中布置有偏振器的像素中的混色。

技术领域

本公开涉及能够获取诸如与偏振分量有关的强度等信息以及图像信息的成像元件和包括这种成像元件的电子设备。

背景技术

传统上,已经提出了一种成像元件,该成像元件能够获取诸如与偏振分量有关的强度等信息以及图像信息。例如,日本专利特开No.2010-263158(专利文献1)提出了一种成像元件,该成像元件具有排列成二维矩阵的多个像素,其中在一些像素的光束入射面侧布置有偏振器(偏振部件)。

具有上述构成的成像元件的优点在于,通过获取诸如与偏振分量有关的强度等信息以及图像信息,能够促进各种领域的应用,例如,物体的边界的清晰化、路面状况的检测、物体的表面形状的获取、物体的表面特性的测量等。

[引用文献列表]

[专利文献]

专利文献1:日本专利特开No.2010-263158

发明内容

[技术问题]

在具有其中一些像素中布置有偏振器中的构成的成像元件中,发生其中布置有偏振器的像素与其中未布置偏振器的另一个像素彼此相邻的情况。在这种情况下,可以认为进入其中未布置偏振器的像素的入射光束的一部分到达其中布置有偏振器的像素。来自其中未布置偏振器的像素的光束使其中布置有偏振器的像素的消光比降低,结果,这因此成为在与偏振分量有关的信息中产生误差的因素。

因此,本公开的目的涉及在其中布置有偏振器的像素与其中未布置偏振器的另一个像素彼此相邻的情况下能够减轻来自其中未布置偏振器的像素的光束的任何影响的成像元件和包括这种成像元件的电子设备。

[解决问题的方案]

为了实现上述目的,根据本公开第一方面的成像元件是:

一种成像元件,包括:

多个像素,各个所述像素具有光电转换部并且排列成二维矩阵,其中

在所述多个像素中的一些像素的各个像素中的光束入射面侧布置有偏振器,以及

其中未布置偏振器的像素中的至少一些像素的各个像素中布置有材料层,所述材料层防止具有预定范围的波长的光束透射,以减少其中布置有偏振器的像素中的混色。

为了实现上述目的,根据本公开第一方面的电子设备是:

一种电子设备,包括:

成像元件,其中

所述成像元件包括多个像素,各个所述像素具有光电转换部并且排列成二维矩阵,

在所述多个像素中的一些像素的各个像素中的光束入射面侧布置有偏振器,以及

其中未布置偏振器的像素中的至少一些像素的各个像素中布置有材料层,所述材料层防止具有预定范围的波长的光束透射,以减少其中布置有偏振器的像素中的混色。

[发明的有益效果]

根据本公开的成像元件,其中未布置偏振器的像素中的至少一些像素的各个像素中布置有材料层,该材料层防止具有预定范围的波长的光束透射。这减少了以下这种情况的发生:进入其中未布置偏振器的像素的入射光束的一部分到达其中布置有偏振器的像素,因此,改善了其中布置有偏振器的像素中的消光比。需要指出的是,本文记载的效果仅是示例性的而不是限制性的,此外,可以实现任何其他效果。

附图说明

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