[发明专利]测定装置以及测定方法

权利要求书

1.一种测定装置，其特征在于，具备：

第一获取部，从包括第二质量浓度测定器、第二计数浓度测定器和第二湿度计的第二测定站获取气体中的粒子的第二质量浓度、所述气体中的粒子的第二计数浓度和所述气体的第二湿度；

相关计算部，计算相对于所述第二湿度的所述第二质量浓度与相对于所述第二湿度的所述第二计数浓度的多个相关函数，并且将多个所述相关函数存储在存储部中；

第二获取部，从包括第一计数浓度测定器和第一湿度计的第一测定站获取所述气体中的粒子的第一计数浓度和所述气体的第一湿度；

选择部，参照存储多个所述相关函数的所述存储部，并且从多个所述相关函数选择两个相关函数，两个所述相关函数最接近基于在与测定出所述第一计数浓度或所述第一湿度的测定时刻接近的时刻测定出的所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度曲线化后的点；以及

质量浓度计算部，基于两个所述相关函数并通过使用内插法，计算通过所述点的换算式，并且基于所述粒子的所述第一计数浓度并通过将所述第一湿度代入所述换算式，计算所述粒子的第一质量浓度。

2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，

通过在比规定的期间长的期间反复进行在所述规定的期间获取所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度，并根据所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度计算所述相关函数中的每一个相关函数，从而得到多个所述相关函数。

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其特征在于，

所述质量浓度计算部基于使用两个所述相关函数并通过内插法或者外推法计算出的换算式，计算所述气体中的粒子的所述第一质量浓度。

4.一种测定方法，其特征在于，包括如下的处理：

从包括第二质量浓度测定器、第二计数浓度测定器和第二湿度计的第二测定站获取气体中的粒子的第二质量浓度、所述气体中的粒子的第二计数浓度和所述气体的第二湿度；

计算相对于所述第二湿度的所述第二质量浓度与相对于所述第二湿度的所述第二计数浓度的多个相关函数，并且将多个所述相关函数存储在存储部中；

从包括第一计数浓度测定器和第一湿度计的第一测定站获取所述气体中的粒子的第一计数浓度和所述气体的第一湿度；

参照存储多个所述相关函数的所述存储部，并且从多个所述相关函数选择两个相关函数，两个所述相关函数最接近基于在与测定出所述第一计数浓度或所述第一湿度的测定时刻接近的时刻测定出的所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度曲线化后的点；以及

基于两个所述相关函数并通过使用内插法，计算通过所述点的换算式，并且基于所述粒子的所述第一计数浓度并通过将所述第一湿度代入所述换算式，计算所述粒子的第一质量浓度。

5.根据权利要求4所述的测定方法，其特征在于，

通过在比规定的期间长的期间反复进行在所述规定的期间获取所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度，并根据所述第二质量浓度、所述第二计数浓度和所述第二湿度计算所述相关函数中的每一个相关函数，从而得到多个所述相关函数。

6.根据权利要求4或5所述的测定方法，其特征在于，

在计算所述第一质量浓度的处理中，基于使用两个所述相关函数并通过内插法或者外推法计算出的换算式，计算所述气体中的粒子的所述第一质量浓度。