[发明专利]非线性测量方法和非线性测量装置

权利要求书

1.一种用于测量待测量光纤的光学非线性的非线性测量方法，所述待测量光纤包括第一端、与所述第一端相反的第二端、在所述第一端和所述第二端之间延伸并具有相互耦合的波导模式的多个芯部、以及围绕所述多个芯部的单个包层，所述非线性测量方法包括：

准备步骤，准备激光源和检测单元，所述激光源和所述检测单元中的每个光学连接到所述待测量光纤的所述第一端处的所述多个芯部中的任一个特定芯部；

光发射步骤，将来自所述激光源的激光在所述第一端处输入到所述特定芯部中；

光检测步骤，在所述检测单元接收响应于入射到所述特定芯部中的所述激光而在所述第一端处从所述特定芯部发射的光之后，确定所述检测单元所接收的光中包括的波长分量中由所述待测量光纤的光学非线性引起的特定波长分量的强度；以及

分析步骤，基于所述特定波长分量的强度通过确定局部有效面积来确定所述待测量光纤的光学非线性，

通过测量布里渊后向散射光的功率作为时间函数，确定所述待测量光纤的纵向上的每个位置处的所述局部有效面积。

2.根据权利要求1所述的非线性测量方法，还包括：入射光功率测量步骤，测量入射到所述特定芯部中的所述激光的功率，其中

所述分析步骤基于所述特定波长分量的强度和所述激光的功率来确定所述光学非线性。

3.根据权利要求1或2所述的非线性测量方法，其中，

在所述光发射步骤中，所述激光经由具有已知光学非线性的参考光纤入射到所述特定芯部中，所述参考光纤作为构成所述激光源与所述第一端之间的光路的一部分以及构成所述检测单元与所述第一端之间的光路的一部分的共用光路，

在所述光检测步骤中，所述检测单元经由所述参考光纤接收在所述第一端处从所述特定芯部发射的光，并且

在所述分析步骤中，将所述待测量光纤的光学非线性确定为所述参考光纤的所述已知光学非线性的相对值。

4.根据权利要求1或2所述的非线性测量方法，其中，

在所述光发射步骤中，作为所述激光的脉冲激光在所述第一端处入射到所述特定芯部中，

在所述光检测步骤中，确定所述特定波长分量的强度的时间变化，并且

在所述分析步骤中，基于所述特定波长分量的强度的所述时间变化来确定所述待测量光纤的纵向上的每个位置处的光学非线性。

5.根据权利要求3所述的非线性测量方法，其中，

在所述光发射步骤中，作为所述激光的脉冲激光在所述第一端处入射到所述特定芯部中，

在所述光检测步骤中，确定所述特定波长分量的强度的时间变化，并且

在所述分析步骤中，基于所述特定波长分量的强度的所述时间变化来确定所述待测量光纤的纵向上的每个位置处的光学非线性。

6.一种用于测量待测量光纤的光学非线性的非线性测量装置，所述待测量光纤包括第一端、与所述第一端相反的第二端、在所述第一端和所述第二端之间延伸并具有相互耦合的波导模式的多个芯部、以及围绕所述多个芯部的单个包层，所述非线性测量装置包括：

激光源，其光学连接到所述待测量光纤的所述第一端处的所述多个芯部中的任一个特定芯部，并且构造成发射激光以在所述第一端处入射到所述特定芯部中；

检测单元，其光学连接到所述待测量光纤的所述第一端处的所述特定芯部，所述检测单元在接收响应于入射到所述特定芯部中的所述激光而在所述第一端处从所述特定芯部发射的光之后，确定所接收的光中包括的波长分量中由所述待测量光纤的光学非线性引起的特定波长分量的强度；以及

分析单元，其构造为基于所述特定波长分量的强度通过确定局部有效面积来确定所述待测量光纤的光学非线性，

通过测量布里渊后向散射光的功率作为时间函数，确定所述待测量光纤的纵向上的每个位置处的所述局部有效面积。