[发明专利]用于智能材料分析的设备和方法

权利要求书

1.一种使用可移动检查设备检查包括光子材料的结构的方法，所述方法包括：

照射所述结构的一部分；

接收从所述结构的所述部分中的光子材料衍射的辐射；

根据以下的至少一种确定所述光子材料的变形：i)接收的辐射的强度，ii)接收的辐射的位置和iii)接收的辐射的波长；和

确定变形幅度是否高于阈值；

如果变形幅度高于阈值：

存储关于所述光子材料的变形的数据；

如果变形幅度不高于阈值：

i)停止在所述光子材料的位置的检查；和

ii)移动所述检查设备以检查所述结构的另一部分。

2.根据权利要求1所述的方法，其中用单色辐射照射所述光子材料的所述部分，并根据所接收的辐射的强度确定所述变形。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述检查设备包括辐射源和辐射传感器，并且所述变形进一步根据以下确定：(i)所述辐射源发射的波长，和(ii)所述辐射源相对于被照射的所述结构的所述部分的位置，以及(iii)所述辐射源和所述辐射传感器之间的距离。

4.根据权利要求1所述的方法，其中用多色辐射照射所述光子材料的所述部分，并且进一步根据接收的辐射的波长确定所述变形。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述光子材料是三维的，并且根据测量的波长禁带进一步确定所述变形。

6.根据权利要求4所述的方法，其中所述衍射的辐射由相机传感器接收。

7.根据权利要求6所述的方法，其中根据在相机传感器处接收的波长的位置，进一步确定所述变形。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述检查设备包括辐射源，并且根据接收的辐射的波长和辐射的位置来确定所述变形，其中接收的辐射的位置包括在所述相机传感器处捕获的辐射的像素位置，其中所述变形进一步根据以下确定：(i)相对于被照射的所述结构的所述部分的辐射源位置，以及(ii)所述辐射源与所述相机传感器之间的距离。

9.根据权利要求6所述的方法，其中所述相机传感器包括多个像素元件，其通过表达色调来响应所接收的辐射，并且其中根据表达的色调确定接收的辐射的波长。

10.根据权利要求9所述的方法，其中作为所表达色调的线性函数确定波长。

11.根据权利要求4所述的方法，其中所述多色辐射在可见光谱中。

12.根据权利要求4所述的方法，其中所述多色辐射的至少一部分在可见光谱之外。

13.一种计算机程序产品，其包括非暂时性计算机可读介质，该非暂时性计算机可读介质包括程序代码，该程序代码在被加载到计算机中时控制所述计算机执行权利要求1所述的方法。

14.一种用于检查包括光子材料的物体的可移动设备，其包括：

用于照射结构的一部分的辐射源；

用于接收从所述结构的所述部分中的光子材料衍射的辐射的辐射传感器；

耦合到所述传感器的处理器，其被配置为根据以下的至少一种确定所述光子材料的变形：接收的辐射的i)强度，ii)位置和iii)波长，并且确定变形幅度是否高于阈值；和

耦合到所述处理器的存储介质；

其中如果变形幅度高于阈值，则所述处理器将关于所述光子材料的变形的数据引导到所述存储介质；和

其中如果变形幅度不高于阈值，则所述处理器使所述光子材料的位置处的检查停止，并发送使所述检查设备移动并检查所述结构的另一部分的信号。

15.根据权利要求14所述的设备，其中所述辐射源发射单色辐射，并且所述光子材料的变形根据在所述辐射传感器处接收的辐射强度确定。