[发明专利]用于参照多个传感器单元的方法以及相关的测量装置在审

专利信息
申请号: 201880030673.8 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN110621957A 公开(公告)日: 2019-12-27
发明(设计)人: 瓦尔德马·戈尔斯辰纽 申请(专利权)人: 乌本产权有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 张春水;丁永凡
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 被测物体 传感器单元 测量 相关测量装置 三维表面
【权利要求书】:

1.一种用于参照多个传感器单元(30)的方法,这些传感器单元能够围绕被测物体(2)布置以便测量该被测物体(2)的三维表面,

其中每个传感器单元(30)具有经结构化的照射光源(31)以及与该照射光源处于固定间距的经校准的光学摄影机(39),

其中关于该摄影机(39)来校准该经结构化的照射光源(31)的光锥并且由该摄影机(39)拍摄的该经结构化的照射光的映像从二维像点向三维摄影机坐标的变换通过校准该传感器单元(30)来确定,

其中该方法具有以下步骤:

-在第一和第二传感器单元的摄影机的二维图像坐标中确定(110)多个参照点的位置,

-在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中重构(120)该多个参照点的位置,

-基于所重构的参照点的位置,确定(130)在该第一传感器单元的三维摄影机坐标与该第二传感器单元的三维摄影机坐标之间的变换,

-借助所重构的参照点,在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中重构(140)该经结构化的照射光的映像的位置,

-在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中确定(150)该经结构化的照射光的映像的三角测量位置,以及

-基于该经结构化的照射光的映像的三角测量位置,修正(160)在该第一传感器单元的三维摄影机坐标与该第二传感器单元的三维摄影机坐标之间的变换。

2.一种用于参照多个传感器单元(30)的方法,这些传感器单元能够围绕被测物体(2)布置以便测量该被测物体(2)的三维表面,

其中每个传感器单元(30)具有经结构化的照射光源(31)以及与该照射光源处于固定间距的经校准的光学摄影机(39),

其中关于该摄影机(39)来校准该经结构化的照射光源(31)的光锥并且由该摄影机(39)拍摄的该经结构化的照射光的映像从二维像点向三维摄影机坐标的变换通过校准该传感器单元(30)来确定,

其中该方法具有以下步骤:

-在第一和第二传感器单元的摄影机的二维图像坐标中确定(110)多个参照点的位置,

-在该第一和第二传感器单元的该摄影机坐标系与这些参照点的坐标系之间确定(120)各一个坐标变换,

-借助所确定的坐标变换,在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中重构(140)该经结构化的照射光的映像的位置,

-在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中确定(150)该经结构化的照射光的映像的三角测量位置,以及

-获取(160)在每个传感器单元的所重构的映像与三角测量的映像之间的修正变换,由此修正该第一和第二传感器单元的摄影机坐标系与这些参照点的坐标系之间所确定的坐标变换,其中借助于经修正的变换来产生从该第一传感器单元向该第二传感器单元的参照。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中这些参照点为参照物在两个或更多个姿态下的点,这些点确定了对于这些姿态中的每一个姿态而言该经结构化的照射光的映像的经重构的位置和三角测量位置。

4.根据以上权利要求之一所述的方法,其中这些传感器单元(30)具有线激光源作为经结构化的照射光源(31)并且该经结构化的照射光的映像为激光线。

5.根据以上权利要求之一所述的方法,其中该参照涉及多于两个传感器单元,其中所有传感器单元互相参照。

6.根据权利要求5所述的方法,其中所有传感器单元直接或间接参照该第一传感器单元。

7.根据以上权利要求之一所述的方法,其中将这些传感器单元(30)布置在一个平面中。

8.根据权利要求7所述的方法,其中这些传感器单元(30)具有线激光源作为经结构化的照射光源(31)并且这些传感器单元的激光平面基本上一致。

9.根据以上权利要求之一所述的方法,其中改变这些传感器单元(30)相对彼此的相对位置,其中对这些传感器单元的参照对应地匹配这些传感器单元的相对位置。

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