[发明专利]绝缘膜形成用组合物、绝缘膜、及具备绝缘膜的半导体器件在审
申请号: | 201880030753.3 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN110650987A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 三宅弘人;辻直子;山川章 | 申请(专利权)人: | 株式会社大赛璐 |
主分类号: | C08G59/20 | 分类号: | C08G59/20;C08G77/14;H01L23/29;H01L23/31 |
代理公司: | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 杨薇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 聚有机倍半硅氧烷 式( I ) 绝缘膜 硅氧烷结构单元 形成用组合物 耐热性 聚合性化合物 数均分子量 环氧当量 绝缘性 密合性 翘曲 | ||
1.一种绝缘膜形成用组合物,其包含含有硅氧烷结构单元的聚有机倍半硅氧烷作为聚合性化合物,
在所述聚有机倍半硅氧烷中,下述式(I)表示的结构单元与下述式(II)表示的结构单元的合计为硅氧烷结构单元总量的55摩尔%以上,
[RaSiO3/2] (I)
式(I)中,Ra表示含有环氧基的基团、取代或无取代的芳基、取代或无取代的芳烷基、取代或无取代的环烷基、取代或无取代的烷基、取代或无取代的烯基、或氢原子,
[RaSiO2/2(ORb)] (II)
式(II)中,Ra与上述同义,Rb表示氢原子或碳原子数1~4的烷基,
该聚有机倍半硅氧烷的数均分子量为500~10000、环氧当量为200~2000g/eq。
2.根据权利要求1所述的绝缘膜形成用组合物,其中,含有环氧基的基团为选自下述式(1a)~(1d)中的至少1种基团,
式中,R1a、R1b、R1c、R1d相同或不同,表示直链或支链状的亚烷基。
3.根据权利要求1或2所述的绝缘膜形成用组合物,其中,
相对于所述聚有机倍半硅氧烷100重量份,该绝缘膜形成用组合物以150重量份以下的范围包含下述化合物作为聚合性化合物,所述化合物为具有选自环氧基、氧杂环丁基、乙烯基醚基、酸酐基及酚性羟基中的至少1种聚合性基团的化合物,并且为不包含硅氧烷结构单元的化合物。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的绝缘膜形成用组合物,其含有阳离子聚合引发剂和/或固化促进剂。
5.一种绝缘膜,其由权利要求1~4中任一项所述的绝缘膜形成用组合物的固化物形成。
6.一种半导体器件,其具备权利要求5所述的绝缘膜。
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C08G59-00 每个分子含有1个以上环氧基的缩聚物;环氧缩聚物与单官能团低分子量化合物反应得到的高分子;每个分子含有1个以上环氧基的化合物使用与该环氧基反应的固化剂或催化剂聚合得到的高分子
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C08G59-20 ..以使用的环氧化合物为特征
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