[发明专利]绝缘膜形成用组合物、绝缘膜、及具备绝缘膜的半导体器件在审

专利信息
申请号: 201880030753.3 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN110650987A 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 三宅弘人;辻直子;山川章 申请(专利权)人: 株式会社大赛璐
主分类号: C08G59/20 分类号: C08G59/20;C08G77/14;H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 11105 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨薇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 聚有机倍半硅氧烷 式( I ) 绝缘膜 硅氧烷结构单元 形成用组合物 耐热性 聚合性化合物 数均分子量 环氧当量 绝缘性 密合性 翘曲
【权利要求书】:

1.一种绝缘膜形成用组合物,其包含含有硅氧烷结构单元的聚有机倍半硅氧烷作为聚合性化合物,

在所述聚有机倍半硅氧烷中,下述式(I)表示的结构单元与下述式(II)表示的结构单元的合计为硅氧烷结构单元总量的55摩尔%以上,

[RaSiO3/2] (I)

式(I)中,Ra表示含有环氧基的基团、取代或无取代的芳基、取代或无取代的芳烷基、取代或无取代的环烷基、取代或无取代的烷基、取代或无取代的烯基、或氢原子,

[RaSiO2/2(ORb)] (II)

式(II)中,Ra与上述同义,Rb表示氢原子或碳原子数1~4的烷基,

该聚有机倍半硅氧烷的数均分子量为500~10000、环氧当量为200~2000g/eq。

2.根据权利要求1所述的绝缘膜形成用组合物,其中,含有环氧基的基团为选自下述式(1a)~(1d)中的至少1种基团,

式中,R1a、R1b、R1c、R1d相同或不同,表示直链或支链状的亚烷基。

3.根据权利要求1或2所述的绝缘膜形成用组合物,其中,

相对于所述聚有机倍半硅氧烷100重量份,该绝缘膜形成用组合物以150重量份以下的范围包含下述化合物作为聚合性化合物,所述化合物为具有选自环氧基、氧杂环丁基、乙烯基醚基、酸酐基及酚性羟基中的至少1种聚合性基团的化合物,并且为不包含硅氧烷结构单元的化合物。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的绝缘膜形成用组合物,其含有阳离子聚合引发剂和/或固化促进剂。

5.一种绝缘膜,其由权利要求1~4中任一项所述的绝缘膜形成用组合物的固化物形成。

6.一种半导体器件,其具备权利要求5所述的绝缘膜。

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