[发明专利]用于从井孔进行地层评估的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201880030818.4 申请日: 2018-05-09
公开(公告)号: CN110612462B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 迪巴舍希·萨卡尔;迈克尔·罗斯·韦尔斯;斯图尔特·布雷克·巴西;詹姆斯·维娜·莱格特 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01V1/46 分类号: G01V1/46;G01V1/48;G01V1/52
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 曹瑾
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 进行 地层 评估 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种被配置成延伸穿过钻孔(16)的井下测量工具(20),所述井下测量工具(20)包括:

单个振动源(22),所述振动源被配置成将源信号(100)发射到所述钻孔(16)周围的一定体积的材料(21)中,其中所述源信号(100)被配置成传播通过所述钻孔(16)周围的所述一定体积的材料(21)并且从设置于所述钻孔(16)周围的所述一定体积的材料(21)内的特征(26)反射离开,其中单个源信号包括压缩波和剪切波;以及

三分量接收器(24),所述三分量接收器包括:

第一元件(206),所述第一元件定向在与所述钻孔(16)的轴线(200)正交的第一平面中,其中所述第一元件(206)被配置成接收所述源信号(100)的第一组反射;

第二元件(208),所述第二元件与所述第一元件(206)正交地定向在所述第一平面中,其中所述第二元件(208)被配置成接收所述源信号(100)的第二组反射;以及

第三元件(210),所述第三元件与所述轴线(200)平行地定向,其中所述第三元件(210)被配置成接收所述源信号(22)的第三组反射,

其中所述井下测量工具被配置为获取所接收的所述源信号的所述第一组反射、所述第二组反射和所述第三组反射;以及

计算装置,所述计算装置被配置为分析所接收的所述源信号的所述第一组反射、所述第二组反射和所述第三组反射并基于所述源信号的所述第一组反射、所述第二组反射和所述第三组反射生成所述钻孔周围的所述一定体积的材料的一个或多个图像,其中所述钻孔周围的所述一定体积的材料的一个或多个图像包括一个或多个2D图像,并且其中所述计算装置被配置为基于所述一个或多个2D图像估计走向和倾角。

2.如权利要求1所述的井下测量工具(20),其中所述振动源(22)被配置成沿着垂直于所述钻孔轴线(200)的第二平面发射所述源信号。

3.如权利要求1所述的井下测量工具(20),其中所述第一组反射和所述第二组反射包括所述源信号(100)的压缩分量(P)和所述源信号(100)的第二剪切分量(S2)。

4.如权利要求3所述的井下测量工具(20),其中所述第三组反射包括所述源信号(100)的第一剪切分量(S1)。

5.如权利要求1所述的井下测量工具(20),其中所述三分量接收器(24)包括三轴线磁阻传感器。

6.如权利要求1所述的井下测量工具(20),其中所述三分量接收器(24)包括一个或多个地震检波器。

7.如权利要求1所述的井下测量工具(20),其中所述三分量接收器(24)包括一个或多个加速度计。

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