[发明专利]改进的X射线图像中的几何测量

权利要求书

1.一种用于处理对象(30)的2D X射线图像的设备(10)，包括：

输入单元(12)；以及

处理单元(14)；

其中，所述输入单元被配置为：提供来自待辐照的对象(30)的与形状有关的信息(16)；并且提供通用对象模型(20)；并且提供所述对象的实际2D X射线图像(18)；并且

其中，所述处理单元被配置为基于所述与形状有关的信息来调整所述通用对象模型，以便生成个体对象模型(22)；并且

其中，所述处理单元被配置为：基于所述个体对象模型来确定经调整的个体图像处理修改器(24)，并且将所述经调整的个体图像处理修改器应用于所述X射线图像的进一步的处理，所述经调整的个体图像处理修改器提供与所述对象有关的3D信息以用于处理所述X射线图像的至少一部分，其中，所述调整包括缩放人造数值对象的3D数据，使得朝向所述X射线图像的X射线图像数据来调整所述3D数据。

2.根据权利要求1所述的设备(10)，

其中，所述处理单元被配置为：基于实际应用的X射线辐射参数将所述X射线图像的预定区中的图像数据转换成特定的透射值；并且基于所述特定的透射值来确定所述与形状有关的信息。

3.根据权利要求1所述的设备(10)，

其中，所述与形状有关的信息是经由范围测量单元来确定的，所述范围测量单元确定所述对象到所述探测器的实际距离。

4.根据前述权利要求中的一项所述的设备(10)，还包括输出单元(28)；

其中，所述输出单元被配置为基于用于所述X射线图像的处理的所应用的个体图像处理修改器来显示所述进一步的处理的结果。

5.一种X射线成像系统(50)，包括：

X射线成像装置，其具有X射线源(54)和X射线探测器(56)；以及

根据前述权利要求中的一项所述的用于处理对象的2D X射线图像的设备(10)，

其中，所述X射线成像装置被提供为生成被布置在所述X射线源与所述X射线探测器之间的所述对象的实际X射线图像。

6.一种用于处理对象的2D X射线图像的方法(100)，包括以下步骤：

a1)提供(102)来自待辐照的对象的与形状有关的信息；

a2)提供(103)通用对象模型数据；

b)基于所述与形状有关的信息来调整(104)所述通用对象模型数据以生成个体对象模型；

c)基于所述个体对象模型来确定(106)经调整的个体图像处理修改器，所述经调整的个体图像处理修改器提供与所述对象有关的3D信息以用于处理X射线图像的至少一部分，其中，所述调整包括缩放人造数值对象的3D数据，使得朝向所述2D X射线图像的X射线图像数据来调整所述3D数据；

d)在步骤c)之前提供(108)所述对象的实际2D X射线图像；

e)将所述经调整的个体图像处理修改器应用(110)于所述X射线图像的进一步的处理。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，在步骤e)中，所述进一步的处理包括图像修改；并且

其中，优选地，所述图像修改包括改进的散射校正。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，在步骤e)中，所述进一步的处理包括图像解读；

其中，优选地，所述图像解读包括特征分析。

9.根据权利要求6、7或8所述的方法(100)，其中，为了提供所述与形状有关的信息(16)，提供以下步骤：

基于实际应用的X射线辐射参数在预定区中将所述X射线图像(18)转换成特定的透射值；并且

确定所述与形状有关的信息(16)；

其中，所述与形状有关的信息(16)是基于所述特定的透射值来确定的。