[发明专利]高效多路复用技术

权利要求书

1.一种用于在自变量的间隔内测量入射辐射的一个或多个因变量的方法，其中，

一个或多个因变量的变化依赖于所述自变量，该方法包括以下步骤：

收集要测量的所述入射辐射；

利用一空间调制器或一时间调制器将每个间隔中超过一半的所述入射辐射引导至至少两条不同路径中的一条路径中，所述调制器经历一配置序列，使所述配置序列的每个成员将间隔内的入射辐射的不同组合引导到每个路径中；

其中所有不同路径的辐射强度之和至少为总入射辐射的60％；

通过每个调制器配置的检测器测量每个路径中的总辐射强度，以提供多个检测器输出；

对检测器的输出进行统计分析，以获得与要测量的辐射的因变量有关的信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调制器通过一系列M个配置循环，在每个配置中，根据辐射入射到所述调制器上的位置和时间将入射辐射分成N个部分，并将入射辐射的每个部分的大部分引导到P个不同的路径中的一个路径；其中P大于或等于2且小于N；其中M大于或等于N，并且调制器配置序列包括至少两个配置，针对该配置，每个部分的大部分被引导到不同路径中。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，辐射通过源位置、波长、相位或偏振在空间上分离，并且被引导到N＞2个不同的区域中，以表征为一测量表面，并且所述调制器是置于所述测量表面的空间调制器。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，使用根据所述序列调制的栅极调制器将辐射在时间上划分为N＞2个部分。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，选择调制器的配置序列，使得配置序列Z的矩阵表示具有以下特性：Z^TZ是非奇异的；其中Z具有MP行和N列，并且其中Z的每一行表示在一个检测器处的测量，Z的每一列表示独立参数的一个范围，Z的元素表示所述行的每个范围中的粒子通量的分数。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，至少一个Z的元素为非整数。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对矩阵进行卷积后，编码模式既不是二进制的，也不是正交的。

8.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，通过独立特性，其中所述独立特性选自源位置、波长、相位或偏振，将辐射在空间上分隔开，并且被引导到N＞2个不同的区域中，以表征为一测量表面，并且所述调制器是置于所述测量表面的空间调制器。

9.根据前述权利要求1的方法，其特征在于，所述辐射通过一独立特性被分隔到不同路径上，其中所述独立特性是时间，并且使用栅极调制器在时间上分离辐射。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述调制器的不同配置的数量大于或等于所述独立特性的划分数量。

11.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调制器配置序列对于每个划分包括至少两种配置，其中所述划分内的大部分辐射被引导到不同的路径中。

12.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，每个路径具有多个检测器，其中每个检测器测量在不同能量范围内沿着该路径传播的辐射。

13.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，每个路径有多个探测器，并且路径上的每个检测器测量来自不同起源地的辐射。

14.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，要测量的辐射来自以下中的一种：色散光谱仪、傅里叶变换光谱仪、成像光谱仪、干涉图、衍射仪、拉曼散射、谷粒、飞行时间质谱仪、荧光衰变、测试流体流量的流通池、被分析的粒子反射的光、振动的通电固体材料反射的辐射所产生的干涉图，以及参考表面反射的辐射。