[发明专利]压缩成型用液状树脂组合物及电子部件装置在审
申请号: | 201880036087.4 | 申请日: | 2018-05-31 |
公开(公告)号: | CN110770275A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 井上英俊;松崎隆行;高桥寿登;上村刚;吉井东之 | 申请(专利权)人: | 日立化成株式会社;纳美仕有限公司 |
主分类号: | C08G59/20 | 分类号: | C08G59/20;C08K7/18;C08K3/36;C08K5/5435;C08L63/00;H01L23/29;H01L23/31 |
代理公司: | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 葛凡 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 脂肪族环氧化合物 含氮杂环化合物 液状树脂组合物 环氧化合物 无机填充剂 压缩成型 芳香环 | ||
一种压缩成型用液状树脂组合物,其包含(A)脂肪族环氧化合物、(B)分子中具有芳香环的环氧化合物、(C)含氮杂环化合物和(D)无机填充剂。
技术领域
本发明涉及压缩成型用液状树脂组合物及电子部件装置。
背景技术
近年来,为了谋求电子部件装置的低成本化、小型化、薄型化、轻质化、高性能化和高功能化,正在通过元件的布线的微细化、多层化、多引脚化和封装体的小型薄型化来推进高密度安装。与此相伴地,广泛使用与IC(Integrated Circuit,集成电路)等元件几乎为相同尺寸的电子部件装置,即CSP(Chip Size Package,芯片尺寸封装)。
其中,在晶圆阶段进行树脂密封的晶圆级芯片尺寸封装受到关注。该晶圆级芯片尺寸封装中,在晶圆阶段,通过使用了固态的环氧树脂组合物的压塑成形(压缩成型)或使用了液状的环氧树脂组合物的印刷成型将多个元件一并密封,进行单片化。因此,与将元件单片化后进行密封的方法相比,能够大幅提高生产率。但是,密封后的硅晶圆容易翘曲,该翘曲在此后的输送、磨削、检查和单片化的各工序中会成为问题,在某些器件的情况下,有时会引起元件特性产生变化的问题。
另一方面,一直以来,在电子部件装置的元件密封的领域中,树脂密封由于生产率、成本等而成为主流,广泛使用环氧树脂组合物。作为其理由,是因为环氧树脂在电特性、耐湿性、耐热性、机械特性、与嵌入物的粘接性等各特性方面取得了平衡。一般认为,硅晶圆的翘曲源于因该环氧树脂组合物的固化收缩、硅晶圆与环氧树脂组合物的热膨胀系数的不匹配等而产生的应力。硅晶圆的翘曲有使封装体的可靠性下降之虞。因此,对用于这类用途的环氧树脂组合物要求低应力化。为了使环氧树脂组合物低应力化,有效的是高填充无机填充剂而减小热膨胀系数,并且使用挠性化剂或挠性树脂等而减小弹性模量。
例如,专利文献1中记载了一种密封用液状环氧树脂组合物,其含有液状双酚型环氧树脂、硅橡胶微粒、硅酮改性环氧树脂、芳香族胺固化剂、无机填充剂和有机溶剂。
另外,专利文献2中记载了一种密封用液状环氧树脂组合物,其含有液状环氧树脂、芳香族胺固化剂、包含固态硅酮聚合物核和有机聚合物壳的核壳硅酮聚合物微粒、无机填充剂和有机溶剂。
如此,现有技术中,作为用于降低密后的硅晶圆的翘曲的压缩成型用液状树脂组合物,公开了至少包含液状环氧树脂、固化剂、橡胶微粒和无机填充剂的液状环氧树脂组合物。
另外,专利文献3中,公开了一种包含环氧树脂、酸酐固化剂和无机填料的液状塑模剂。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-23272号公报
专利文献2:日本特开2008-150555号公报
专利文献3:日本特开2014-152314号公报
发明内容
发明要解决的课题
在使用硅橡胶微粒和硅酮改性环氧树脂的专利文献1、或使用核壳硅酮聚合物微粒的专利文献2的情况下,可以降低环氧树脂固化物的弹性模量,实现低应力化。但是有时会产生不能充分减小更薄的硅晶圆或者12英寸尺寸或更大型的硅晶圆的翘曲的问题。另外,在使用了酸酐固化剂的专利文献3的情况下,可以将组合物的粘度抑制得较低,通过大量填充无机填料而可以降低环氧树脂固化物的线膨胀系数。但是,环氧树脂固化物的弹性模量高,有时不能充分减小大型硅晶圆的翘曲。为了进一步降低成本和实现封装体的薄型化,硅晶圆将来有日益增大、厚度减薄的倾向,需要减小这些硅晶圆的翘曲。
我们认为:硅晶圆的翘曲问题是在SiC(碳化硅)晶圆、蓝宝石晶圆、GaAs(砷化镓)晶圆等化合物半导体晶圆之类的半导体晶圆中都可能发生的问题。
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