[发明专利]显示装置及图像数据修正方法

说明书

显示装置(1)，具备：劣化量增量计算部(120)，其根据图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；劣化量累积部(125)，其于每一规定时间累积藉由劣化量增量计算部(120)计算的劣化量的增量；以及修正部(135)，其根据藉由劣化量累积部(125)累积的劣化量的增量的总量，修正像素的亮度。

技术领域

本发明关于显示装置及图像数据修正方法。

背景技术

近年来尤其被注目的设备有OELD(有机电激发光显示器：Organic ElectroLuminescence Display)。OELD根据电信号进行发光，且是使用有机化合物作为发光物质而构成的显示装置。OELD固有地具有广视角、高对比、及高速响应等优异的显示特性。又，OELD由于可实现薄型、轻量、及高画质的小型至大型的显示装置，因此作为取代CRT(CathodeRay Tube：阴极射线管)和LCD(Liquid Crystal Display：液晶显示器)的显示装置而受到注目。

然而，在被使用于OLED的有机EL元件中，存在有起因于经时变化及温度变化的劣化问题。

为了修正像这样的劣化，专利文献1中，揭示有为了修正起因于温度变化的劣化而具有经时补偿功能及温度补偿功能这两个补偿功能的显示装置。

专利文献2中，揭示有以缩小成为劣化监视对象的第一区域中包含的至少一个像素的发光亮度、和第二区域中包含的至少一个像素的发光亮度之差的方式，对这些发光亮度的至少一方进行修正的自发光显示装置。

专利文献3中，揭示有根据光传感器的检测结果、和被保持于电容的电压而控制供应给发光元件的电流量的显示装置。

专利文献4中，揭示有利用自基准像素的受光信号导出的亮度劣化函数、和各显示像素的映像信号的历史来预测各显示像素的亮度劣化率的显示装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2004-070349号公报(2004年3月4日公开)

专利文献2：日本特开2010-243895号公报(2010年10月28日公开)

专利文献3：日本特开2016-109914号公报(2016年6月20日公开)

专利文献4：日本特开2011-065047号公报(2011年3月31日公开)

发明内容

本发明所要解决的技术问题

在专利文献2中揭示的显示装置中，如果不是所显示的图像一定、且预先知道劣化部分的情况，则无法进行图像数据的修正。

因此，在所显示的图像每次不同的情况下，如专利文献3及专利文献4中所揭示的显示装置，必须取得各发光元件劣化的信息而进行图像数据的修正。但是，若因画面大型化及/或精细化而像素数增加，则存在有劣化的信息膨胀增大，而无法将劣化的信息存储在存储器等的问题。

本发明的一方面，目的在于实现即使是像素数多的情形，也能够长期间进行图像数据的修正的显示装置。

解决问题的手段

为了解决上述课题，本发明的一方面的显示装置，具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，所述显示装置具备：计算部，其根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度(gradation)数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；累积部，其于每一规定时间累积藉由所述计算部计算的劣化量的增量；以及修正部，其根据藉由所述累积部累积的劣化量的增量的总量，修正所述像素的亮度。