[发明专利]多层结构在审
申请号: | 201880038543.9 | 申请日: | 2018-06-15 |
公开(公告)号: | CN110731001A | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | S·马利克;W·A·赖纳特 | 申请(专利权)人: | 富士胶片电子材料美国有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C08L59/00;G03F7/004;H01L23/538 |
代理公司: | 11415 北京博思佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 艾佳 |
地址: | 美国罗*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 耦合层 多层结构 衬底 沉积 介电层 | ||
1.一种多层结构,包括:
衬底;
沉积在所述衬底上的耦合层;和
沉积在所述耦合层上的介电层,
其中,与不具有所述耦合层的多层结构相比,在存在所述耦合层的情况下,所述介电层的剪切强度提高至少约2倍。
2.如权利要求1所述的多层结构,其中,所述耦合层使所述介电层的剪切强度提高至少约3倍。
3.如权利要求1所述的多层结构,其中,所述衬底包括环氧模塑化合物。
4.如权利要求3所述的多层结构,其中,所述衬底包括嵌入式半导体器件。
5.如权利要求3所述的多层结构,其中,所述多层结构还包括所述衬底的表面处的至少一种图案化的金属结构。
6.如权利要求1所述的多层结构,其中,所述耦合层由包含以下的组合物制成:
至少一种聚合物;
至少一种交联剂;和
至少一种能够引发交联反应的引发剂。
7.如权利要求6所述的多层结构,其中,所述聚合物是至少一种(甲基)丙烯酸酯聚合物。
8.如权利要求6所述的多层结构,其中,所述交联剂包含选自由乙烯基、烯丙基、乙烯基醚基、丙烯基醚基、(甲基)丙烯酰基、SiH基和巯基组成的组中的至少一种官能团。
9.如权利要求1所述的多层结构,其中,所述介电层包含选自由聚酰亚胺、聚苯并恶唑、(甲基)丙烯酸酯聚合物、环氧聚合物、聚氨酯、聚酰胺、聚酯、聚醚、线型酚醛清漆树脂、苯并环丁烯树脂、聚苯乙烯及其混合物组成的组中的至少一种聚合物。
10.如权利要求9所述的多层结构,其中,所述介电层是光敏层。
11.如权利要求1所述的多层结构,其中,所述介电层包括:
至少一种完全亚酰胺化的聚酰亚胺聚合物;
至少一种交联剂;和
至少一种能够引发交联反应的引发剂。
12.一种用于制备权利要求1所述的多层结构的方法,包括:
(a)用形成所述耦合层的组合物涂覆衬底以形成第一涂覆衬底;以及
(b)用形成所述介电层的组合物涂覆所述第一涂覆衬底。
13.如权利要求12所述的方法,还包括通过使所述第一涂覆衬底经受烘烤或暴露于光源的步骤使所述耦合层交联。
14.如权利要求12所述的方法,还包括通过使所述介电层经受烘烤或暴露于光源的步骤使所述介电层交联。
15.如权利要求12所述的方法,还包括通过选自由光刻工艺、激光烧蚀工艺和等离子体蚀刻工艺组成的组的工艺使所述介电层图案化。
16.一种三维物体,包括通过权利要求12所述的方法形成的至少一个多层结构。
17.一种半导体器件,包括权利要求16所述的三维物体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片电子材料美国有限公司,未经富士胶片电子材料美国有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201880038543.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造