[发明专利]用于红外光谱测定的高级参考检测器

权利要求书

1.一种光谱测定系统，其包括：

干涉图源，其用以提供含有干涉图的IR信号；

源路径，其包含沿从所述干涉图源延伸的光学路径的第一部分的路径轴的焦点；

Jacquinot光阑，其包含大体上安置在所述焦点处的孔径和与所述路径轴大体上非正交且面向所述干涉图源的反射性表面，其中所述孔径传递所述IR信号的内部部分作为所述IR信号的入射部分，且所述反射性表面反射所述IR信号的外部部分作为所述IR信号的反射部分；和

参考检测装置，其用以检测所述IR信号的所述反射部分。

2.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中：

所述孔径包括光学开口以传递所述IR信号的径向向内部分；且

所述反射性表面反射所述IR信号的径向向外部分。

3.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中：

所述反射性表面包括弯曲表面；且

所述孔径安置在所述弯曲表面的顶点附近。

4.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中所述干涉图源包括：

红外(IR)源，其用以发射IR能量；

干涉仪，其用以产生并组合所述IR能量的固定和可变反射；和

反射镜，其安置成反射组合的所述IR能量的固定和可变反射。

5.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中所述干涉图源包括迈克尔逊干涉仪。

6.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中所述参考检测装置包括红外检测器。

7.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其中所述参考检测装置包括：

反射镜，其安置成进一步反射所述IR信号的所述反射部分；和

红外检测器，其用以接收所述IR信号的所述进一步反射的部分。

8.根据权利要求1所述的光谱测定系统，其进一步包括用以检测所述IR信号的至少一部分的样本检测装置。

9.根据权利要求8所述的光谱测定系统，其中所述样本检测装置包括红外检测器。

10.根据权利要求8所述的光谱测定系统，其中所述样本检测装置包括：

反射镜，其安置成反射所述IR信号的所述至少一部分；和

红外检测器，其用以接收反射的所述IR信号的所述至少一部分。

11.一种光谱测定方法，其包括：

用干涉图源生成含有干涉图的IR信号；

经由包含沿从所述干涉图源延伸的光学路径的第一部分的路径轴的焦点的光路径传送所述IR信号；

经由Jacquinot光阑的孔径传递所述IR信号的内部部分作为所述IR信号的入射部分，所述Jacquinot光阑大体上安置在所述焦点处且包含与所述路径轴大体上非正交且面向所述干涉图源的反射性表面；

经由所述反射性表面反射所述IR信号的外部部分作为所述IR信号的反射部分；和

检测所述IR信号的所述反射部分。

12.根据权利要求11所述的光谱测定方法，其中：

经由孔径传递所述IR信号的内部部分经由光学开口传递所述IR信号的径向向内部分；且

经由所述反射性表面反射所述IR信号的外部部分包括反射所述IR信号的径向向外部分。

13.根据权利要求12所述的光谱测定方法，其中：

反射所述IR信号的径向向外部分包括经由弯曲表面反射所述IR信号的所述径向向外部分；且

经由光学开口传递所述IR信号的径向向内部分包括在所述弯曲表面的顶点处传递所述IR信号的径向向内部分。