[发明专利]位置传感器有效
申请号: | 201880039451.2 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN110741230B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 小林笃史;北浦靖宽;卷田真宏;佐佐木章人;近江徹哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14;G01B7/00;G01D5/245 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 吕文卓 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 传感器 | ||
位置传感器具备:检测部(119),具备具有一面(129)的传感器芯片(110)、设于上述传感器芯片的第1检测元件(121,144,150)、及设于上述传感器芯片的第2检测元件(122,145,146);以及信号处理部(120),对从上述检测部输入的信号进行处理。上述第1检测元件根据从检测对象(200)受到的磁场的变化,输出与上述检测对象的位置对应的第1检测信号。此外,上述第2检测元件根据从上述检测对象受到的磁场的变化,输出与上述检测对象的位置对应的第2检测信号。并且,上述一面的面内的上述第1检测元件的平衡的中心与上述一面的面内的上述第2检测元件的平衡的中心一致。
关联申请的相互参照
本申请基于2017年6月16日申请的日本专利申请第2017-118778号,这里援引其记载内容。
技术领域
本发明涉及输出与检测对象的位置对应的信号的位置传感器。
背景技术
以往,对检测对象的移动进行检测的检测装置例如在专利文献1中被提出。具体而言,提出了具备多个磁阻元件和对各磁阻元件的输出进行处理的处理电路的检测装置。各磁阻元件构成了配置在与检测对象对置的位置、电气地形成各个半桥电路的第1磁阻元件对及第2磁阻元件对。
并且,各磁阻元件对的中点电位对应于检测对象的移动而变化。因而,处理电路通过将各磁阻元件对的中点电位的差动输出与阈值进行比较而输出将该差动输出2值化后的2值化信号。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利第4466355号公报
这里,如果将装置和检测对象准备2组则能够实现双重系统。该情况下,由于尺寸和成本增加,所以追求不增加检测对象而由1个检测装置实现双重系统。因此,如果在传感器芯片内将2个磁阻元件横向排列,则能够产生二系统的信号。
但是,设于传感器芯片的磁阻元件所受到的磁场的方向具有面内分布,所以在二系统中产生信号的相位差。因此,在二系统间产生检测位置的系统间误差。
发明内容
本发明的目的在于,提供即使检测部以双重系统构成也能够消除检测位置的系统间误差的位置传感器。
本发明的一形态的位置传感器具备检测部和对从检测部输入的信号进行处理的信号处理部,检测部具备具有一面的传感器芯片、设于传感器芯片的第1检测元件、和设于传感器芯片的第2检测元件。
第1检测元件根据从检测对象受到的磁场的变化,输出与检测对象的位置对应的第1检测信号,第2检测元件根据从检测对象受到的磁场的变化,输出与检测对象的位置对应的第2检测信号。进而,一面的面内的第1检测元件的平衡的中心与一面的面内的第2检测元件的平衡的中心一致。
由此,各检测信号成为反映了各检测元件的平衡的中心的磁场的变化的平均的信号。并且,由于各检测元件的平衡的中心相互一致,所以各检测元件从检测对象受到的磁场的变化的平均一致。因此,各检测元件能够生成相同的检测信号。因而,即使检测部构成为双重系统,也能够消除检测位置的系统间误差。
附图说明
本发明的上述目的及其他目的、特征及优点通过参照附图和下述的详细记载会更加明确。
图1是本发明的第1实施方式的位置传感器的外观图。
图2是构成利用了磁阻元件的磁检测方式的零件的分解立体图。
图3是图2所示的各零件的平面图。
图4是图3的IV-IV剖面图。
图5是用于说明磁阻元件的检测信号的图。
图6是表示位置传感器的电路结构的图。
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