[发明专利]检查装置在审
申请号: | 201880040185.5 | 申请日: | 2018-04-16 |
公开(公告)号: | CN111886474A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 与语照明 | 申请(专利权)人: | 株式会社欧普同 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01N21/88 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 唐雪娇;徐迅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 装置 | ||
一种控制装置,其基于由拍摄部投影指定的光学图案并进行拍摄而获得的工件的图像对工件的三维表面形状进行测量。控制装置对所测量到的工件的三维表面形状和表示与工件相对应的合格品的三维表面形状的基准形状数据进行对照,并检测出工件中被识出显示形状与合格品的三维表面形状不同的部位,以作为成型不良部位候选。控制装置仅将检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在表示成型不良部位基准的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位。
相关申请的交叉引用
本国际申请要求2017年6月16日在日本专利局提交的日本发明专利申请第2017-118775号的优先权,所述日本发明专利申请的全部内容通过引用而并入本文。
技术领域
本公开涉及检查成型品中的成型不良部位的检查装置。
背景技术
以往,通过目视或手动操作测量仪器对利用冲压加工或注射成型等成型加工生产的成型品是否存在成型不良部位进行检查。在此所述的成型不良部位是符合包括在成型的过程中产生的瑕疵、压痕、部分缺损、毛刺、裂纹、浮渣、以及镀层剥落等在内的成型不良的部位。目视或手动操作测量仪器进行检查的方法在检查一个成型品时需要较长的时间。因此,对于大量生产的成型品,有时无法接受进行全数检查所需的时间和成本。在无法接受进行全数检查所需的时间或成本的情况下,只能采用从全部总量中抽取一部分进行检查的抽样检查。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2015-114309号公报
发明内容
此外,作为以高速且以高精度地测量对象物的表面形状的方法,已知有例如专利文献1记载的三维图像测量方法。因此,发明人锐意进取开发了一种系统,该系统能够使用这种三维图像测量方法高速且以高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位,从而能够实现对大量生产的成型品进行全数检查。本公开的一个方面优选能够使用三维图像测量高速且以高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位。
本公开的一个方面的检查装置具有投影部、拍摄部、测量部、比较检测部、以及不良确定部。投影部构成为对规定的拍摄范围投影指定的光学图案。拍摄部构成为对图像进行拍摄,该图像包含对处在拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案。测量部构成为基于拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量检查对象物的三维表面形状。
比较检测部对测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照,其中,给定的基准形状数据表示与检查对象物相对应的合格品的三维表面形状。并且,比较检测部构成为,检测出检查对象物的三维表面形状中被识别出显示形状与合格品的三维表面形状不同的部位,并将该部位连同该部位的形状尺寸一起作为成型不良部位候选。不良确定部构成为,仅将比较检测部检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在规定的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位,其中,规定的判定基准值表示成型不良部位的基准。
根据本公开的检查装置,能够使用三维图像测量高速且高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位。具体而言,本公开的检查装置能够通过对利用三维图像测量方法测量到的检查对象物的三维表面形状和表示合格品的三维表面形状的基准形状数据进行对照而检测出存在于检查对象物中的成型不良部位候选。
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