[发明专利]光测距装置在审

专利信息
申请号: 201880040986.1 申请日: 2018-06-22
公开(公告)号: CN110799854A 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 植野晶文;秦武广;柏田真司 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/497
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 金雪梅;王海奇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 修正 响应 光测距装置 信号输出部 变化状态 脉冲信号 时间序列 时间差 对象物 照射部
【权利要求书】:

1.一种光测距装置,是根据光到对象物的往复时间测量距离的光测距装置(1A、1B、1C、1D),具备:

照射部(3),对要检测对象物的区域照射光波;

多个SPAD(4),构成为对包含上述光波的反射波的光子的入射进行响应;

多个信号输出部(6、8),按上述多个SPAD的每一个SPAD,构成为当上述SPAD进行响应时输出脉冲信号;

响应数检测部(20、40),构成为基于上述脉冲信号来检测表示正在进行响应的SPAD的个数的响应数;

定时识别部(45),构成为基于上述响应数沿着时间序列的变化状态来识别暂时定时,并根据上述暂时定时来识别检测定时,上述暂时定时是上述变化状态满足预先设定的条件的定时,上述检测定时表示该光测距装置检测出光的定时;以及

定时修正部(56、57),构成为获取修正时间,并将对上述暂时定时修正了上述修正时间后的定时设定为上述检测定时,上述修正时间表示上述暂时定时与和到上述对象物为止的距离对应的真实定时的时间差。

2.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,

上述定时识别部构成为将上述响应数取最大值的定时识别为上述暂时定时。

3.根据权利要求1或者权利要求2所述的光测距装置,其中,还具备修正运算部(56、57),该修正运算部构成为根据该光测距装置的受光环境来对上述修正时间进行运算。

4.根据权利要求3所述的光测距装置,其中,

上述修正运算部构成为根据入射至该光测距装置的光的强度来对上述修正时间进行运算。

5.根据权利要求3或者权利要求4所述的光测距装置,其中,

上述修正运算部构成为进一步考虑相对于上述SPAD的总数的响应率来对上述修正时间进行运算。

6.根据权利要求3~5中任意一项所述的光测距装置,其中,

上述修正运算部构成为进一步考虑表示稳定地进行响应的SPAD的个数的偏差值来对上述修正时间进行运算。

7.根据权利要求3~6中任意一项所述的光测距装置,其中,

上述修正运算部构成为进一步考虑在上述暂时定时的上述响应数以及响应连续时间来对上述修正时间进行运算,上述响应连续时间表示进行了响应的SPAD连续响应的时间。

8.根据权利要求7所述的光测距装置,其中,

还具备响应测量部(58),该响应测量部构成为针对至少一个SPAD,通过监视该SPAD是否正在进行响应来测量关于该SPAD的上述响应连续时间,

上述修正运算部构成为进一步考虑在上述响应测量部测量出的响应连续时间来对上述修正时间进行运算。

9.根据权利要求7所述的光测距装置,其中,还具备:

温度获取部(48),构成为针对至少一个SPAD,获取该SPAD的温度或者该SPAD的周围的温度,

上述修正运算部构成为根据上述温度来对上述响应连续时间进行运算,并进一步考虑该响应连续时间来对上述修正时间进行运算。

10.根据权利要求1~9中任意一项所述的光测距装置,其中,

上述定时识别部构成为每当上述照射部照射光波时识别上述响应数沿着时间序列的变化状态,并基于累计变化状态来识别上述暂时定时,上述累计变化状态是按照从各光波被照射起的每一时间对上述响应数进行累计而得的。

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