[发明专利]用于测量在机械元件处的弯矩的装置和方法

权利要求书

1.一种用于测量在沿轴线(03)延伸的机械元件(01)处的弯矩(M_b)的装置；其中所述机械元件(01)具有空腔(07)和至少一个在环周上围绕所述轴线(03)延伸的、用于磁化的磁化区域(04)；并且其中所述装置还包括至少一个设置在所述空腔(07)中的磁场传感器(08)，所述磁场传感器构成用于测量通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的至少一个单个的方向分量(09)，其中所述磁场传感器(08)与垂直相交于所述轴线(03)的如下直线间隔开地设置，该直线平行于通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的借助所述磁场传感器(08)可测量的方向分量(09)定向，并且所述磁场传感器(08)与垂直相交于所述轴线(03)的如下直线间隔开地设置，该直线垂直于通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的借助所述磁场传感器(08)可测量的方向分量(09)定向。

2.根据权利要求1所述的装置，

其特征在于，

至少一个所述磁场传感器(08)与所述轴线(03)间隔开地设置在所述空腔(07)中。

3.根据权利要求1所述的装置，

其特征在于，

至少一个所述磁场传感器(08)设置在如下轴向位置处，在所述轴向位置中构成有所述磁化区域(04)。

4.根据权利要求1所述的装置，

其特征在于，

至少一个所述方向分量(09)位于垂直于所述轴线(03)的平面中。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，

其特征在于，

所述装置包括刚好一个磁场传感器(08)，所述磁场传感器构成用于测量通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的刚好一个方向分量(09)。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，

其特征在于，

所述装置包括刚好一个磁场传感器(08)，所述磁场传感器构成用于测量通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的刚好两个方向分量(09)，其中这两个方向分量彼此垂直地定向。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，

其特征在于，

所述装置包括两个磁场传感器(08)，所述磁场传感器分别构成用于测量通过磁化和通过弯矩(M_b)引起的磁场的单个的方向分量(09)，其中借助这两个磁场传感器(08)中的一个磁场传感器可测量的方向分量(09)与借助这两个磁场传感器(08)中的另一个磁场传感器可测量的方向分量(09)彼此垂直地定向。

8.一种用于借助根据权利要求1至7中任一项所述的装置来测量弯矩(M_b)的方法，所述方法包括如下步骤：

-接收至少一个磁场传感器的至少一个测量信号；并且

-根据所述测量信号来确定所述弯矩(M_b)。

9.根据权利要求8所述的方法，

其特征在于，

所述方法构成用于借助根据权利要求6所述的装置来测量弯矩(M_b)并且包括如下步骤：

-接收用于测量两个方向分量(09)的磁场传感器(08)的第一测量信号和第二测量信号；

-根据所述第一测量信号来确定所述弯矩(M_b)的第一方向分量(M_bx)；并且

-根据所述第二测量信号来确定所述弯矩(M_b)的第二方向分量(M_by)。

10.根据权利要求8所述的方法，

其特征在于，

所述方法构成用于借助根据权利要求7所述的装置来测量弯矩(M_b)并且包括如下步骤：

-接收两个磁场传感器(08)中的第一磁场传感器的第一测量信号；

-接收两个磁场传感器(08)中的第二磁场传感器的第二测量信号；

-根据所述第一测量信号来确定所述弯矩(M_b)的第一方向分量(M_bx)；并且

-根据所述第二测量信号来确定所述弯矩(M_b)的第二方向分量(M_by)。